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固體絕緣材料電性能測(cè)試測(cè)量方法和度
固體絕緣材料電性能測(cè)試測(cè)量方法和度1測(cè)量方法和度1.1方法測(cè)量高電阻常用的方法是直接法或比較法。直接法是測(cè)量加在試樣上的直流電樂和流過(guò)它的電流(伏安法)面求得未知電阻。比較法是確定電橋線路中試樣未知電...
新材料檢測(cè)材料電性能測(cè)試絕緣材料測(cè)試表面體積電阻率高阻計(jì)2022/5/29707 -
耐電弧測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)
一、適用范圍:HCDH-4型耐電弧測(cè)試儀是根據(jù)GB1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC61621及ASTMD495設(shè)計(jì)、制造的,并符合JEC149、UL746A等試驗(yàn)...
耐電弧測(cè)試儀耐電弧2022/5/29545 -
電壓擊穿測(cè)試儀的使用要求和操作注意事項(xiàng)
電壓擊穿測(cè)試儀在使用時(shí)有如下要求。一、環(huán)境要求:1、工作室不低于15㎡,周圍不應(yīng)受易爆、易燃的氣體以及*的電磁場(chǎng)和電火花干擾。2、實(shí)驗(yàn)室獨(dú)立控溫,溫度為20±5℃,相對(duì)濕度為65&plu...
電壓擊穿試驗(yàn)儀擊穿電壓試驗(yàn)儀電壓擊穿擊穿電壓2022/5/29731 -
靜電計(jì)原理
從上面的構(gòu)造分析,我們知道靜電計(jì)本身其實(shí)就是一個(gè)電容器。金屬球、金屬桿、指針相當(dāng)于電容器的一個(gè)電極,金屬外殼也相當(dāng)于一個(gè)電極,它們之間是絕緣的。其電容的大小由金屬殼的幾何尺寸的大小和金屬桿及指針的長(zhǎng)短...
靜電計(jì)2022/5/29763 -
關(guān)于介電常數(shù)測(cè)試儀
HCJDCS-B型高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介HCJDCS-B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)...
介電常數(shù)測(cè)試儀介電常數(shù)2022/5/29958 -
表面體積電阻率測(cè)試儀
表面、體積電阻率測(cè)試儀一、符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTMD257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T2439-2001《硫化橡...
表面體積電阻率測(cè)試儀2022/5/29995 -
皮安電流表的簡(jiǎn)單介紹
皮安電流表產(chǎn)品名稱:皮安電流表產(chǎn)品型號(hào):HEST122品牌:北京華測(cè)產(chǎn)品介紹4位半122型皮安表結(jié)合了華測(cè)公司高靈敏度電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有8個(gè)電流量...
皮安電流表2022/5/291155 -
關(guān)于電荷測(cè)量?jī)x
問題1法拉第筒里面測(cè)的粉體質(zhì)量有沒有什么限制,比如說(shuō)大量和小量分別是多少?(我想測(cè)15mg-100g范圍之內(nèi)的樣品,不知道能不能得到滿足)解答:主要看的是材料的體積,體積太小就會(huì)測(cè)不出!問題2測(cè)量量程...
電荷測(cè)量?jī)x2022/5/291369 -
什么是電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀
電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品名稱:電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào):HCRD-2品牌:北京華測(cè)產(chǎn)品介紹該儀器是根據(jù)GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣...
電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)2022/5/29853 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀適用于各種絕緣材料的不同要求
電壓擊穿試驗(yàn)儀適用于不同用戶的不同要求電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。在均勻電場(chǎng)(見不均勻電場(chǎng)...
2022/5/29610 -
影響介電擊穿強(qiáng)度的因素
閃絡(luò)-指高壓電器(如高壓絕緣子)在絕緣表面發(fā)生的放電現(xiàn)象,成為表面閃絡(luò),簡(jiǎn)稱閃絡(luò)。絕緣閃絡(luò):絕緣材料在電場(chǎng)作用下,尚未發(fā)生絕緣結(jié)構(gòu)的擊穿時(shí),在其表面或與電極接觸的空氣(離子化氣體)中發(fā)生的放電現(xiàn)象,成...
介電擊穿電壓擊穿2022/5/29641 -
擊穿電壓的主要因素
擊穿電壓的主要因素1、電壓作用時(shí)間如果電壓作用時(shí)間很短(例如以下),固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿,擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長(zhǎng),擊穿電壓將下降,如果在加電壓后數(shù)小時(shí)才引起擊穿,則熱擊穿往往...
擊穿電壓電壓擊穿2022/5/29550 -
如何正確使用漏電起痕測(cè)試儀
漏電起痕試驗(yàn)儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH4CL),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面...
漏電起痕測(cè)試儀2022/5/29533 -
高溫四探針測(cè)試儀軟件系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)介紹
高溫四探針測(cè)試儀軟件系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)介紹軟件系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái):HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備*的的穩(wěn)定性與安全性,并具備...
高溫四探針高溫四探針測(cè)試儀高溫四探針測(cè)試儀軟件系統(tǒng)高溫四探針測(cè)試平臺(tái)高溫四探針介紹2022/5/29640 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀的測(cè)試原理
電壓擊穿試驗(yàn)儀的測(cè)試原理測(cè)試原理1、擊穿、耐壓試驗(yàn)就是對(duì)被試品施加一定的電壓,并保持一定時(shí)間,以考慮被試品絕緣承受各種電壓的性能。絕緣電阻和吸收比試驗(yàn)、泄漏電流和直流耐壓試驗(yàn)以及介質(zhì)損失角測(cè)量試驗(yàn)等雖...
電壓擊穿 電壓擊穿試驗(yàn)儀電壓擊穿測(cè)試原理北京華測(cè)電壓擊穿華測(cè)試驗(yàn)儀2022/5/29882 -
熱重分析儀試驗(yàn)特別的因素會(huì)影響測(cè)量
熱重分析儀試驗(yàn)不可能一帆風(fēng)順,有些特別的因素也同時(shí)會(huì)影響它的測(cè)量:1.試樣量和試樣皿熱重法測(cè)定,試樣量要少,一般2~5mg。一方面是因?yàn)閮x器天平靈敏度很高(可達(dá)0.1μg),另一方面如果試樣量多,傳質(zhì)...
2022/5/29552 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀的調(diào)試與日常維護(hù)
電壓擊穿試驗(yàn)儀調(diào)試與日常維護(hù)HCDJC系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制,通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式,完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿,工頻耐壓試驗(yàn)。電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制...
電壓擊穿試驗(yàn)儀華測(cè)電壓擊穿試驗(yàn)儀2022/5/29447 -
關(guān)于HEST103型靜電計(jì)技術(shù)指導(dǎo)及應(yīng)用
關(guān)于HEST103型靜電計(jì)技術(shù)指導(dǎo)及應(yīng)用HEST103型靜電計(jì)技術(shù)指標(biāo):1、測(cè)量范圍:DC±0.0001V~±200V2、準(zhǔn)確度:±(0.5%讀數(shù)+2字)3、...
靜電計(jì)技術(shù)指導(dǎo)靜電計(jì)應(yīng)用北京華測(cè)技術(shù)部靜電計(jì)103型靜電計(jì)2022/5/29935 -
何時(shí)需要使用皮安表?
何時(shí)需要使用皮安表?測(cè)量低電平直流電流需要的功能往往遠(yuǎn)超過(guò)數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)所能提供的。一般地說(shuō),DMM的靈敏度不足以測(cè)量100nA以下的電流。即便在較高的電流上,DMM的輸入壓降(voltageb...
何時(shí)需要使用皮安表皮安表 122型皮安表皮安表是什么皮安表是什么時(shí)候使用2022/5/29604 -
高溫四探針測(cè)試儀測(cè)試電阻率的原理和方法
高溫四探針測(cè)試儀測(cè)試電阻率的原理和方法高溫四探針測(cè)試儀可以實(shí)現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測(cè)量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其他導(dǎo)電薄膜...
四探針測(cè)試儀2022/5/29766
