儀器特點 ：

計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
 
技術指標 ：

AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標準6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.25nm（AFM模式）
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標)；0.03nm（AFM云母定標）
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
步進馬達自動進行針尖-樣品逼近
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)
AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購
 
電子學控制器：
 
XTZ控制 18-Bit D/A
數據采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數字反饋
反饋采樣速率 
高壓放大器 集成高壓運算放大器，zui大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 20K-1000KHz
幅度范圍 0-10.0V
掃描速率 >40000點/秒
掃描角度 0-360度
掃描偏移 任意
圖像采樣點 256X256或512X512
步進馬達控制 手動和自動進退
計算機接口 標準RS232串行/USB