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THICK800A 天瑞金屬鍍層膜厚測厚儀

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:
  • 品牌:
  • 產品類別:光譜儀
  • 所在地:蘇州市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-02-17 14:15:21
  • 瀏覽次數:2
產品標簽:

ICP-AES/ICP-OES

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  • 經營模式:生產廠家
  • 商鋪產品:630條
  • 所在地區:江蘇蘇州市
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  • 最近登錄:2023-02-17
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產品簡介

公司主營產品

質普儀,光譜儀,色譜儀,ROHS指令分析儀器,

詳情介紹

天瑞金屬鍍層膜厚測厚儀器廠

型號:Thick 800A  X熒光 鍍層測厚儀

賣點:(提供主要賣點以及這個賣點的詳細說明)

1.電鍍行業者           

2.可分析高5層25種元素鍍層

3實現對多鍍層樣品的精準分析

4.方便用戶觀測樣品狀況

5.針對不規律測樣品檢測

 

技術指標

型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。 
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
SDD探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。

天瑞金屬鍍層膜厚測厚儀器

thick8000 是天瑞儀器新款的上海電鍍層厚度測試儀,三維移動平臺和高清射線系統,使整個測試更加精確、清晰。上海電鍍層厚度測試儀是天瑞儀器的優勢產品,打破了國 外壟斷的局面,主要用于金屬鍍層——鍍金,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍銀,鍍銠,鍍鈀等厚度的檢測,廣泛應用在電器電器、五金工具、汽車配件、高壓開關、 制冷設備、精密五金、電鍍加工、衛浴、PCB線路板等企業.

分析含量:一般為2ppm到99.9% 

鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)

的微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

SDD探測器:分辨率低至135eV

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U) 

X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um

同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層

樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭 

準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合 

操作環境濕度:≤90%

操作環境溫度:15℃~30℃ 

儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm

天瑞金屬鍍層測厚儀器

若一個電子由軌道游離,則其他能階的電子會自然的跳至他的位置,以達到穩定的狀態,此種不同能階轉換的過程可釋放出能量,即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同,所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。

下 述可描述X-射線熒光的特性:若產生X-射線熒光是由于轉移一個電子進入K 軌道,一個K軌道上的電子已事先被游離,另一個電子即代替他的地位,此稱之為K 輻射。不同的能階轉換出不同的能量,如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射,而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射,其間是有區別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域,此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射,此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射,此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%,而Lβ輻射能量較Lα大約20%,所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區分的。

原子的特性由原子序來決定,亦即質子的數目或軌道中電子的數目,即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多,而不同的原子序也會造成不同的能量差。

特定的X-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器后,即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。

使用X-射線熒光原理測厚,將被測物置于儀器中,使待測部位受到X-射線的照射。此時,特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生,而檢測系統將其轉換為成比例的電信號,且由儀器記錄下來,測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。

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