即使薄玻璃電路板也能精確繪圖
由于采用的大透鏡，即便是薄玻璃電路板也能從側面直接檢測。另外，由于檢測范圍寬（25±12.5mm），即使玻璃電路板在不規則位置上也可進行穩定繪圖。
可用于各種玻璃電路板
各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量，因而盒內玻璃電路板的精確繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外，有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測。
即使的彎曲±8°也能穩定檢測
隨著玻璃電路板的大型化，其彎曲量也因此變大，但至少有一種可應用于左右彎曲±8°（FD-L45為±6°）的電路板。
寬范圍、高精度檢測
檢測距離為3～17mm（FD-L45為10～ 2 5 m m ） ， 且由于定位誤差在0.2mm以下，因此可進行更高精度的檢測。
檢測距離0～7mm
以比以往更小的尺寸達到了同類中zui長的檢測距離，用于座式確認十分理想，即使對彎曲的玻璃電路板也可提供穩定的檢測性能。
備有短距離型FD-L44S尺寸極小，節省空間FD-WL48
以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學系統中。此外，在無法確保安裝空間的場所、裝置中也可設置，從而大大擴展了其用途。
詳細參數
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