0.01~200µSv/h 環(huán)境級x γ輻射測量儀FJ1200產(chǎn)品簡介：
FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準確快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門檢測環(huán)境本底情況，醫(yī)院人員監(jiān)測射線醫(yī)療設備附近本底，無損檢驗(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量，門的輻照育種設備是否有輻射泄漏。
0.01~200µSv/h 環(huán)境級x γ輻射測量儀FJ1200技術指標：
輻射類型：X，γ
探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體
測量范圍：0.01 ~ 200µSv/h
測量精度：± 10%（100 µSv/h，137Cs）
能量響應： 40 keV ~ 1.3 MeV
響應時間：< 3 s
工作時間：4節(jié)AA1.5V電池
機械尺寸：主機：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
0.01~200µSv/h 環(huán)境級x γ輻射測量儀FJ1200應用范圍：
環(huán)境監(jiān)測機構，醫(yī)院輻射醫(yī)療設備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。
所有評論僅代表網(wǎng)友意見，與本站立場無關。