美國Oakland自重式薄膜測厚儀543-392

543-392自重式薄膜測厚儀帶刻度盤支架

高性能的薄膜和薄板測厚儀

Oakland Instrument優(yōu)勢

543系列數(shù)顯測厚儀，經(jīng)濟，易用，帶支架和觸腳，再加上Oakland Profile Software（輪廓測試軟件），非常適合于薄膜和薄板的現(xiàn)場厚度和厚度輪廓測量。在0.5英寸測量范圍內(nèi)，數(shù)顯厚度分辨率為0.05mil 。電池供電確保了便攜性。額外的自重允許滿足廣泛的ASTM的測試標準和要求。

特性：

很大的背光顯示LCD, 測量范圍：0 - 0.50 inch(12.7mm)

0.00005 inch(0.00127mm) LCD分辨率，inch/mm單位可選

0.00012 inch(0.00305mm)精度，編碼器技術(shù)

在另外加重以滿足您的測試規(guī)格之前，可為小的測力彈性移除

0.187或0.250 inch直徑觸點，其他選項可選

電池供電，有提供電池

功能包括：零值/值，預(yù)設(shè)，zui大值，zui小值，數(shù)據(jù)保持，TIR，可選分辨率，數(shù)字/模擬顯示， SPC數(shù)顯輸出

美國Oakland自重式薄膜測厚儀543-392

刻度盤支架：

3.54英寸zui大可調(diào)節(jié)高度，8.07英寸總高度

硬化剛砧

安裝桿的直徑為0.375英寸，包括0.039英寸微調(diào)長度

好處和選配：

添加一臺計算機，一份Oakland的DAQ-MIC軟件和接口模塊，為您做全面的厚度分析，圖表和數(shù)據(jù)報告；添加一個腳踏開關(guān)以解放您的雙手。

添加一個升降桿，以提高/降低主軸測量。

添加Oakland的可調(diào)平行度砧座，讓您的系統(tǒng)以達到精度和性能。

DAQ-MIC主屏幕顯示厚度輪廓數(shù)據(jù)（選配軟件）

DAQ-MIC薄膜厚度輪廓數(shù)據(jù)軟件

高性能的圖形/統(tǒng)計分析軟件

操作者進入：

測試程序中的樣品ID和編號

圖形顯示：

線性厚度輪廓

數(shù)據(jù)顯示：

圖表格式顯示：厚度的高，低，范圍，平均值和標準方差。

設(shè)置參數(shù)：

操作者在讀數(shù)中選擇距離，軟件將顯示 厚度VS長度，公制或英制單位

數(shù)據(jù)打印輸出和文件保存：

并口打印機輸出輪廓圖形和數(shù)據(jù)表。數(shù)據(jù)文件可保存。

腳踏開關(guān)操作：

腳踏操作可解放雙手。

標配：

543-392自重式數(shù)顯表頭，7008支架，0.188英寸觸點，0.250英寸觸點，頂部安裝式抬升杠桿，可調(diào)平行度砧座，1磅自重帶旋鈕。