產品概述：
       曉INSIGHT鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有高靈敏度、非破壞性、操作簡單、測試精度高、外觀緊湊、節約空間等 特點，不僅可用于對不均勻、不規則，甚至微小件等形態的樣品進行元素分析，還能用于鍍層和鍍層系統的厚度測量，實現快 速測量和精準分析，廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和生產工藝控制環節，以幫客戶降低物料成本，滿足對應的 工業標準。

產品原理：
       用X射線轟擊樣品，樣品受激發后產生X射線熒光。X射線通常把元素原子K層和L層的內層電子打岀原子，產生的空穴被高能量的 外層電子。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射岀來。這些輻射岀來的譜線中含有各種元素的 特征。像指紋一樣，并且獨立于原子的化學價態。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。
儀器工作原理
       曉 I N S I G H T 鍍 層 分 析 儀 使 用 微 聚 焦 X 射 線 管 將 X 射 線 源 的 大 部 分 射 線 收 集 并 匯 聚 成 微 束 斑，照 射 在 樣 品 位 置，從 而 獲 得 良好的空間分辨率及很強的熒光信號，通過能譜探頭及后續的數據處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產生的熒光 信 號，得 出 樣 品 的 成 分 信 息 。它 可 實 現 更 復 雜 應 用 的 快 速 測 量 和 精 準 分 析，是 對 不 均 勻 或 形 狀 不 規 則 的 未 知 樣 品 以 及 微 觀物體進行元素分析的理想方法。