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蘇州裕登電子科技有限公司
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IM3570阻抗分析儀*臺式LCR測試儀
1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器的DCR和L-Q的測量
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