CFI60-2 觀察方法

　　可支持多種觀察方法：明場、暗場、偏光、微分干涉、落射熒光和雙光束干涉測量等。

　　電腦型金相顯微鏡：1、金相顯微鏡2、適配鏡 3、攝像器（CCD) 4、A/D（圖像采集） 5、計算機

　　數碼相機型金相顯微鏡：1、金相顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機

　　金相學主要指借助光學（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準備和取樣方法。其主要反映和表征構成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態等。

　　ECLIPSE LV 系列經過不斷的發展*并配備了新的光學系統和功能，可根據觀察方法和目的選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。用戶可選擇使用電動和手動操控模式以及反射照明模式和反射／透射組合照明模式以滿足任何應用需求。