leeb252 leeb252一體式涂層測厚儀
采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。
以及非磁性金屬基體上非導電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
京海興樂科技（北京）有限公司提供探傷儀(奧林巴斯/汕超/美國GE/達高特/中科漢威/友聯/聲納/)配件：相控陣探頭，直探頭，斜探頭，連接線，探頭線，保護膜，試塊，耦合劑，雙晶探頭，表面波探頭，小徑管探頭，小角度探頭，水浸探頭，非金屬探頭，可拆式探頭，可變角度探頭，窄脈沖探頭、測厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產品。
● 一鍵式操作；
● 一體化設計，體積更小巧。
【主要功能】
采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。以及非磁性金屬基體上非導電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
●一鍵式操作；
●一體化設計，體積更小巧。
【技術參數】
產品類型 | Leeb252 | |
測頭類型 | F1/N1 | |
工作原理 | 磁感應/電渦流 | |
測量范圍 | 0~1250μm | |
低限分辨率 | 1μm | |
示值誤差 | 一點校準 | ±（3%H+1） |
二點校準 | ±[（1~3%)H+1] | |
測試條件 | 小曲率半徑mm | 凸1.5、凹20 |
小面積直徑mm | Φ10 | |
基本臨界厚度mm | 0.5 | |
工作環境 | 溫度 | 0~40℃ |
濕度 | 20%~90% | |
電源 | AAA型堿性電池1.5V四節 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主機） | |
重量 | 120g | |
標準配置 | 主機、標準試片、基體、AAA型堿性電池 | |
【探頭參數】
探頭F400F1F1/90F10N1CN02 | 磁感應 | |||||
測量范圍（ | 0-1250 | 0-1250(銅上鍍鉻10-200 | ||||
低限分辨力0.1 | 10 | 1 | ||||
示值誤差(um) | ±[3%H+10] | ±[3%H+1] | ||||
兩點校準±[(1～±[(1～±[(1～±[(1～- | ||||||
測量條件(mm) | 凸1.5 | 平直10 |
| |||
基體小面積的直徑ф3 | ф7 | ф5 | (mm) | 0.5 | 2 |
|
【探頭選擇參考】
基體與覆蓋層(如) |
(如)
被測面積的直徑
大于
F400 型測頭 0～400µm
F10
F400 型測頭 0～400µm
F10
被測面積的直徑
小于
0～F1
0～F1
有色金屬
如銅N1 型測頭1250µm
僅用于銅上鍍鉻 0～
被測面積的直徑
大于
-
10～<span color:#555555;"="" style="font-size: 10.5pt;">200µm
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