e+h雷達物位計發射功率很低的極短的微波通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
恩格斯豪斯雷達物位計FMR240系列連續的非接觸式物位測量儀表。
經濟的4 - 20 mA 兩線制技術，適用于危險區域。
Micropilot M FMR240系可用于對液體、漿料、淤泥和固了進行連續的非接觸式物位測量。測量不受介質改變、溫度變化、氣層或蒸汽的影響。FMR240具有小尺寸的40mm(1½") 喇叭天線，非常適合于小型容器中的物位測量，其測量精度可達±3 mm (±0.12 in).

恩格斯豪斯雷達物位計FMR240系列優點
經濟的兩線制技術:
是差壓、浮子和浮筒式物位計的可靠替代品。
采用兩線制技術，有效的降低布線成本，且易于實現與現有系統的集成
非接觸式測量
測量幾乎不受介質特性影響.
通過數文引導式菜單輕松進行現場操作.
通過Endress+Hauser的操作軟件便于進行儀表調試、文件編制和故障診斷
頻率范圍采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金會現場總線協議
用于物位監測(MIN, MAX) ，符合 IEC 61508/IEC 61511-1標準的要求，通過了SIL 2認證
恩格斯豪斯雷達物位計測量條件：
注意事項l 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。
l 若介質為低介電常數當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。
l 理論上測量達到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。
l 對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區上。
l zui小測量范圍與天線有關。
l 隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。

E+H導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調整，從而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應現場的應用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質特性變化的影響，被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。粘附：沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。容器內安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內安裝物的影響，不需要特殊調試。可以提供不同形式的探頭用于不同應用：纜式，用于測量液體介質或重量大的固體介質，量程可達60米；棒式，用于測量液體介質或重量輕的固體介質，量程可達6米；同軸套管，用于測量低黏度的介質，不受過程條件的影響，量程可達6米。
e+h雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業頻率波段范圍內正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現場校調等優點，不論是對工業需要，還是對顧客經濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。