衰減全反射棱鏡ATR Prism
屹持光電提供各種衰減全反射棱鏡ATR Prism元件，用于全內反射測量。通常，當樣品難以用透射分析時，使用反射光譜法。頂置ATR系統適用于凝膠、薄膜和細粉分析。使用不同的頂板ATR系統分析難以處理的易揮發或敏感樣品。它們還用于提供溫度敏感分析和聚合物膜遷移，以及表面取向和反應動力學研究。單反射ATR系統使用高吸收和小樣本進行靜態或流動分析。
當紅外輻射進入具有較高折射率和良好透射率的材料時，發生內部反射。如果入射角超過臨界角（等式1），則與晶體緊密接觸的樣品吸收能量。
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