具備高速掃描3D重建功能的ZeeCam系列3D數字顯微鏡相機
ZeeCam系列3D數字顯微鏡產品規格：
型號 | ZeeCam 100 | ZeeCam 150 | ZeeCam 200 |
相機 | ?"CMOS 1280 x 1024 5.2µm square pixels 30fps@full resolution | 1/1.8"CCD 1616 x 1216 4.40 square pixels 12fps@full resolution | ?"CCD 2560 x 1920 2.20 square pixels 6fps@full resolution |
顯微鏡接口 | 視頻端口-C mount接口，1× c-mount 安裝耦合器 | ||
尺寸&重量 | |||
ZeeCam頭 | 155(H) 80(W) 56(D) mm 375 g | ||
控制單元 | 40(H) 158(W) 150(D) mm 150g | ||
電源 | 110/220 V AC | ||
PC端接口 | USB 2.0 | ||
3D測量性能：
c-mount耦合器的放大倍數是取決于Z范圍和分辨率的客觀因素。下表給出了使用1X耦合器進行標準物鏡放大的典型性能。 對于任何其他放大倍率和/或c-mount耦合器配置，可以采用以下公式：Z Range = 16mm / (G_Obj G_adapt)2 Z Resolution = Objective Depth Of Field /4
G_Obg = Objective magnification G_adapt = c‐mount coupler magnification
物鏡 Mag/NA | Z軸范圍（μm） | Z軸分辨率（μm） |
5X / 0.10 | 640 | 18.5 |
10X / 0.25 | 160 | 3 |
20X / 0.45 | 40 | 1 |
50X / 0.8 | 6.4 | 0.25 |
-Z軸精度：1 %
-Z軸可重復性：0.35 %
-坡度：90°
-由相機分辨率和物鏡放大率確定XY空間分辨率
粗糙度測量：
共提供了12個分析參數，包括常用的Ra（Sa)，Rq（Sq)，Rz（Sz)等參數。且參數符合ISO 4287, 25178 DIN 4768標準。
-測量范圍：Ra，Rq：0.01-500 µm
-測量準確度: ≤±10%
-測量重復性：≤6%
軟件：
GetPhase®GUI軟件（隨附）與Windows 8、7，XP和Vista兼容。 GetPhase®提供
從自動采集到2D / 3D圖像分析，以及文檔和報告生成的工具。可選的API / SDK包括ZeeScan采集控件，Z-stack例程，3D重建，EDF，DIC，相位和3D表面分析。
采集&處理 | 2D/3D展示&分析 | 圖像數據導出和報告 |
2D/3D采集向導 | BF, DF, Ph, DIC, 3D視圖 | 項目存檔 |
自動對焦及曝光 | 文字和圖像疊加 | 3D數據的Excel導出 |
關注區域 | 2D/3D測量 | 第三方軟件的3D數據 |
系統導航 | 圖像融合（EDF） | 報告編輯器 |
拼接 | 粗糙度ISO標注 | HTML兼容的演示 |
宏錄制 | 步進高度測量 |
ZeeCam系列3D數字顯微鏡相機可與立式或倒置材料顯微鏡兼容。無需顯微鏡修改或其他附件，可以使用所有類型的物鏡放大倍率和數值孔徑。
ZeeCam隨附GetPhase軟件，其中包括用于Z深度測量，3D表面形貌，粗糙度和臺階高度測量的綜合工具，并成功用于以下應用領域：金屬涂料、電子涂料、陶瓷聚合物、半導體材料、寶石學、博物館、法醫。
ZeeCam系列3D數字顯微鏡相機可進行快速的z向掃描，該3D顯微鏡相機使用的光學組件進行3D掃描，集成了數字透鏡技術，從而取代了傳統的電動手段，例如步進電機或壓電設備等，從而實現了Z軸方向上且高度可重復的3D采集和分析。
快速準確的3D表面計量：
ZeeScan和Getphase以一種快速和簡單的方式進行三維采集和分析。非接觸光學表面輪廓具備很高的可重復性。
-納米和微米范圍內的范圍表面分析
-從光滑到粗糙的表面檢測能力
-ISO粗糙度和臺階高度測量
-快速采集和處理時間的高通量
*的成像功能：
可以自動實現高分辨率圖像的Z向疊加，提供圖像融合圖像（擴展景深圖像、Z深度測量或三維重建）。此外，GetPhase還提供了二維測量和圖像文檔工具。
-無需的光學器件即可顯示出精細的結構細節
-單擊具有多個視圖的圖像文檔
-自動圖像融合（擴展景深）
-2D測量和報告
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