這款EDS掃描電鏡SEM-30AX是安裝有Thermal公司緊湊型EDS探測器的高性價比掃描電鏡,集成了掃描電鏡和能量色散光譜儀功能,具有較低的掃描電鏡價格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)研究。

EDS掃描電鏡SEM-30AX納米世界,幫助用戶在納米微觀世界研究中保持優(yōu)勢,為高校和科研單位提供了這款而快速的高分辨率臺式掃描電鏡。

EDS掃描電鏡SEM-30AX獲取高質(zhì)量微觀圖像SEM幫助客戶在幾分鐘內(nèi)獲得微米和納米尺度圖像,臺式掃描電鏡尺寸提高了實驗室的空間使用率,SEM是幫助科學(xué)教師對學(xué)生進(jìn)行直觀解釋的工具，SEM對中小型工業(yè)企業(yè)也比較實惠，我們承諾使用SEM測量納米世界。EDS掃描電鏡SEM-30AX廣泛應(yīng)用材料分析

　　SEM幫助掌握材料特性，提供的圖像。SEM可以分析深亞微米或納米結(jié)構(gòu)。由壓力引起的材料的改變，熱可以用掃描電鏡檢測。從SEM得到的高景深和高質(zhì)量的圖像是尋找各種材料缺陷和變化的方案。藥物化學(xué)在研究領(lǐng)域中，藥物化學(xué)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和尺寸不斷縮小，達(dá)到納米級。SEM可以地觀察納米樣品，并最終幫助研究人員得到所需的輸出。質(zhì)量控制通過對SEM具有高質(zhì)量的圖像，可以地發(fā)現(xiàn)微小缺陷。用掃描電鏡可以探測到難以用光學(xué)顯微鏡發(fā)現(xiàn)的深亞微米裂紋。用掃描電鏡檢查可以發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中存在的問題，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量。教育教學(xué)SEM帶領(lǐng)學(xué)生進(jìn)入了科學(xué)的納米世界，而這在學(xué)校里并沒有被真正的看待。現(xiàn)在，數(shù)字應(yīng)用如細(xì)胞、昆蟲、花粉、金屬質(zhì)地、法醫(yī)物證等都適用于掃描電鏡。這個工具可以培養(yǎng)學(xué)生對納米世界的好奇心，幫助發(fā)現(xiàn)學(xué)生的才能。

EDS掃描電鏡SEM-30AX參數(shù)

　　放大倍率：20X~100.000X

　　有效放大：50000X

　　分辨率：7nm (20KV SE圖像）

　　加速電壓：1KV-30KV (1/3/5/10/15/20/30KV)

　　電子槍：Tungsten Flarment (W)

　　探測器： 標(biāo)配SE探測器（BSE/EDS探測器可選）

　　樣品臺：X: 35mm電動, Y:35mm電動, R:360度旋轉(zhuǎn)，Z:0-60mm , T:0-45度電動可調(diào)

　　樣品大小：70mm直徑，45mm長度

　　圖像模式：RED(320X240), TV(640x480), Slow (800x600)

　　Phto(1280x960, 2560x1920, 5120x3840)

　　拍攝幀頻：RED ( 30 幀/秒), TV ( 10 幀/秒), Slow(2幀/秒)

　　真空系統(tǒng)：Turbo Molecular Pump

　　自動功能：Start,Focus,Filament,Brightness/contrast

　　操作系統(tǒng)：windows7

　　尺寸：400(W) x 600(L)x 550(H)mm

　　重量：90kg

　　EDS功能

　　- C(6)至U(92)元素 - 133eV分辨率@5.89 kev Mn,80eV氟-高達(dá)1,000,000個/秒x射線輸入計數(shù)，達(dá)30萬次存儲的x射線計數(shù)-自動峰值鑒別-采用過濾最小二乘擬合的自動無標(biāo)準(zhǔn)定量分析-基于項目的數(shù)據(jù)存儲-可以點擊報告打印，MS Word和MS PowerPoint-用單點或矩形進(jìn)行x射線采集-基于時間或統(tǒng)計的光譜圖像終止標(biāo)準(zhǔn)-元素地圖的動態(tài)顯示-定性地圖提取與無限圖像重疊-質(zhì)性的Linescan萃取與元素圖像-使用點、矩形、圓、魔術(shù)棒和多邊形形狀的光譜提取- Linescan圖疊加在電子圖像上。

EDS掃描電鏡SEM-30AX具有電動控制的樣品臺，方便用戶精密定位樣品樣品。

EDS掃描電鏡SEM-30AX具有自動聚焦功能，方便 用戶快速獲得高質(zhì)量SEM圖像

EDS掃描電鏡SEM-30AX具有多模式圖像處理功能，方便用戶獲得高質(zhì)量SEM圖像。

EDS掃描電鏡SEM-30AX的能量色散光譜圖