TriStar II Plus比表面分析儀
多用途/多通道/占地面積小
TriStar II Plus比表面分析儀是全自動化且含三個分析站的比表面積和孔隙度分析儀，具有出色的性能和分析速度。TriStar II Plus比表面分析儀為用戶提供高通量和高質量的數據。的耐腐蝕的不銹鋼歧管，可確保結果可靠且可重復。
的硬件和軟件特點
· 的耐腐蝕的不銹鋼歧管，設計用于高精度的氣體管理
· 改進的杜瓦瓶設計，提供超出40h的連續溫度控制
· 直觀的MicroActive軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數據，更快地獲得比表面與孔徑數據
· 用戶自定義報告選項允許直接建模
· *的Python腳本語言，允許用戶開發TriStar II Plus軟件標準報告庫擴展程序
· 創新的儀器顯示屏，方便的儀器性能指標和維護信息實時顯示功能
· 能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑
數據處理的優勢
l 直接處理吸附數據。通過簡單的移動計算條，用戶立即更新文本屬性。一鍵式訪問重要的參數，讓用戶專注于結果，而不是參數
l 交互式數據處理大限度地減少使用對話框和達到計算參數的路徑。這使用戶準確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度
l 更強的能包含壓汞數據的文件添加疊加刪除功能（多25個）
l 用戶可選數據范圍，通過圖形化界面允許直接建BET、 t-plot，Langmuir、 DFT理論等模型
l 報告選項編輯，允許用戶自定義多達五份報告，可在屏幕上預覽
l 每個報表都有總結、表格和圖形信息項
低比表面積測量選項
氪氣選件可以將比表面積測量范圍擴展至0.001m2/g。
TriStar II Plus比表面分析儀表格和圖表報告：
l 單點或多點BET 比表面積
l 總孔體積
l Langmuir 比表面和等溫線
l t-Plot
l Harkins和Jura厚度層公式
l Halsey厚度層公式
l 碳黑STSA
l Broekhoff-de Boer
l Kruk-Jaroniec-Sayari
l BJH 吸附/脫附曲線
l 標準
l Kruk-Jaroniec-Sayari校正
l Dollimore-Heal吸附/脫附曲線
l 中孔
l 孔體積和面積分布
l MP-方法
l HK
l Saito-Foley
l Chang-Yang
l DFT孔徑
l DFT表面能
l 總結報告
l SPC報告
l 確認報告
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