LEXT OLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測顯微鏡，可以實現從50倍到100萬倍的超大范圍的觀察和測量。

OLS4500為您帶來的解決方案

實現納米級觀測的新型顯微鏡。不會丟失鎖定的目標。

涵蓋了低倍到高倍觀察，并配有多種觀察方法可以迅速發現觀察對象。

可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察。不僅如此，*光學技術打造的光學顯微鏡帶來多種觀察方法，可以容易的發現觀察對象。此外，對于光學顯微鏡難以找到的觀察對象，還可以使用激光顯微鏡進行觀察。在激光微分干涉（DIC）觀察中，可以進行納米級微小凹凸的實時觀察。

縮短從放置樣品到獲取影像的工作時間。

放置好樣品后，所有的操作都在1臺裝置上完成。可以迅速，正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面，所以只要掃描1次就能獲取所需的SPM影像。

一體機的機型，所以無需重新放置樣品只要在1臺裝置上切換倍率、觀察方法就能夠靈活應對新樣品。

OLS4500實現了無縫觀察和測量

【發現】可以迅速發現觀察對象

使用光學顯微鏡的多種觀察方法， 迅速找到觀察對象

OLS4500采用了白色LED光源， 可以觀察到顏色，逼真的高分辨率彩色影像。它裝有4種物鏡，涵蓋了低倍到高倍的大范圍觀察。OLS4500充分發揮了光學觀察的特長， 除了使用的明視場觀察（BF）以外，還可以使用對微小的凹凸添加明暗對比， 達到視覺立體效果的微分干涉觀察（DIC）， 以及用顏色表現樣品偏光性的簡易偏振光觀察。此外，OLS4500上還配有HDR功能（高動態范圍功能）， 該功能使用不同的曝光時間拍攝多張影像后進行合成，來顯示亮度平衡更好、強調了紋理的影像。在OLS4500上您可以使用多種觀察方法迅速找到觀察對象。

使用激光顯微鏡，可以觀察到光學顯微鏡中難以觀察到的樣品影像

OLS4500采用了短波長405 nm的激光光源和高N.A.的專用物鏡， 實現了優異的平面分辨率。能以鮮明的影像呈現出光學顯微鏡中無法看到的觀察對象。在激光微分干涉（DIC）模式中還可以實時觀察納米級的微小凹凸。

【接近】迅速發現觀察對象，在SPM上正確完成觀察

實現了無縫觀察，不會丟失觀察對象

OLS4500在電動物鏡轉換器上裝配了涵蓋低倍到高倍觀察的4種物鏡， 以及小型SPM單元。在光學顯微鏡或激光顯微鏡的50倍、100倍的實時觀察中， 由于SPM掃描范圍一直顯示于視場中心， 所以把觀察目標點對準該位置后， 只要切換到探針顯微鏡， 就能夠正確接近觀察對象。因此， 只需1次SPM掃描就能獲取目標影像， 從而能夠提高工作效率并降低微懸臂的損耗。

不會在SPM觀察中迷失的、可切換式向導功能

【納米級測量】簡單操作，可以迅速獲得測量結果

新開發的小型SPM測頭， 減少了影像瑕疵

使用向導功能，自由放大SPM影像

使用向導功能， 可以觀察時進一步放大探針顯微鏡拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠標指針設置放大范圍并掃描， 就可以獲取所需的SPM影像。可以自由設置掃描范圍， 所以大幅度提高了觀察和測量的效率。

向導功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范圍

優異的分析功能， 應對各種測量目的

跟從向導畫面的指示， 可輕松操作的6種SPM測量模式

裝配了激光掃描顯微鏡，靈活應對多種樣品

輕松檢測85°尖銳角

采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統（能限度發揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

LEXT 專用物鏡

高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓

由于采用405 nm的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡， OLS4500達到了0.12 μm的平面分辨率。因此， 可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯的亮度檢測技術， OLS4500可以分辨出亞微米到數百微米范圍內的高度差。此外， 激光顯微鏡測量還了測量儀器的兩大指標——“正確性"（測量值與真正值的接近程度）和“重復性"（多次測量值的偏差程度）的性能。