JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
JIMA RT RC-02B分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸： 16種規格圖案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
JIMA RT CT-01 分辨率測試卡（專用于三維CT系統分辨率測試）
圖案布局：T型
線/空間尺寸：5種規格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm