HPL-85型 高級偏光顯微鏡
HPL-85系列礦相顯微鏡，專為科研與教學設計，功能齊全。
●專業的無限遠色差校正光學系統，可以按照需要選擇不同的功能附件，為性能升級預留了空間。
●專業級金屬旋轉偏光載物臺，轉動精確，操作舒適，帶任意位置鎖緊裝置，使用方便。
●無限遠無應力物鏡，提供像質更好，清晰度更佳的微觀世界。
●勻稱的整體結構，一體化機架，保證了高度的穩定性和剛性。
●110V-220V自適應寬電壓系統。
●專業的無限遠色差校正光學系統，可以按照需要選擇不同的功能附件，為性能升級預留了空間。
●專業級金屬旋轉偏光載物臺，轉動精確，操作舒適，帶任意位置鎖緊裝置，使用方便。
●無限遠無應力物鏡，提供像質更好，清晰度更佳的微觀世界。
●勻稱的整體結構，一體化機架，保證了高度的穩定性和剛性。
●110V-220V自適應寬電壓系統。
物鏡：HPL-85系列礦相顯微鏡配有性能*的偏光觀察物鏡，包括無應力消色差物鏡和無應力平場物鏡兩個系列，在減少了光學畸變的同時，保證了偏光觀察的效果，以獲得高襯度的圖像。
物鏡轉換器：內定為內傾式可調中轉換器，帶物鏡中心調節扳手，物鏡定位更加準確，不同倍率物鏡變換時可保持中心不變。轉換更加方便。
偏光分析器：位于分析內的檢偏器可180°自由旋轉，游標精度為6'/格，帶檢偏鏡鎖緊裝置。錐光觀察和偏光觀察能夠自由轉換。錐光觀察能夠自由調焦，使得錐光圖像更加清晰。
偏光聚光鏡：偏光聚光鏡，帶錐光觀察頂鏡，NA1.25，中心可調，雙導柱定位滑動，起偏鏡組能夠360°旋轉，帶有0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°、315°共八檔刻度。
補償器：根據不同的觀察需要，可以適配一下三種不同的補償器。
四分之一波長補償器（云母試板，光程差137nm）,用來在線性偏光和環形偏光之間轉換。
全波長補償器（石膏試板，光程差530nm），即使在觀察色彩微弱的標本時，也能產生明顯的色彩變化。
石英楔子（可連續產生Ⅰ-Ⅳ級干涉色）用來粗略測量延遲的水平，如晶體大分子等。
四分之一波長補償器（云母試板，光程差137nm）,用來在線性偏光和環形偏光之間轉換。
全波長補償器（石膏試板，光程差530nm），即使在觀察色彩微弱的標本時，也能產生明顯的色彩變化。
石英楔子（可連續產生Ⅰ-Ⅳ級干涉色）用來粗略測量延遲的水平，如晶體大分子等。
旋轉載物臺：直徑142mm，格值1°，精度6'，帶鎖緊裝置，帶切片壓片（可加配十字移動尺），使偏光觀察更加方便快捷，有效地減少了載物臺和物鏡之間的干擾，確保在各種物鏡下得到高品質的成像
HPL-85配置表
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系統組成
電腦型高精度偏光顯微鏡（HPL-85C）： 1、顯微鏡 2、適配鏡 3、300萬像素攝像器 4、計算機
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