天瑞Thick800A鍍層測厚儀

 詳細配置信息：

硬件：主機壹臺，含下列主要部件：  
 

(1)   X光管                    

(2)Si-PIN電制冷半導體探測器

(3)信號檢測電子電路     

(4)高精度二維移動平臺 

(5)高清晰攝像頭            

(6) 高低壓電源

(7)  開放式樣品腔            

(8）雙激光定位裝置

(9)  鉛玻璃屏蔽罩
 

軟件：天瑞X射線FpThick分析軟件V1.0
 

技術指標：
 

1.1分析元素范圍：K-U

1.2 同時可分析多達5層鍍層

1.3分析厚度檢出限達0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5測量時間：5s-300s

1.6計數率：0-8000cps

1.7 Z軸升降范圍：0-140mm

1.8 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)
 

工作環境要求：
 

2.1環境溫度要求：15℃-30℃

2.2環境相對濕度：<70%

2.3工作電源：交流220±5V

2.4周圍不能有強電磁干擾。
        性能特點：
        滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

         采用高度定位激光，可自動定位測試高度

         鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

         良好的射線屏蔽作用
       

  測試口高度敏感性傳感器保護

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