A型標準試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 （15/50μ）標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
磁粉探傷標準靈敏度試片
A型靈敏度試片先由日本無損檢測學會提出，以后為多個使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。
磁粉探傷標準靈敏度試片特 點：
磁粉探傷標準靈敏度試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現(xiàn)其的優(yōu)點。
磁粉探傷標準靈敏度試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
磁粉探傷標準靈敏度試片使用方法：
1、標準試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時應選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進行外加懸場法，對工件進行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明：
主要用于檢驗磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
| 名稱 | A1型試片 / A2型試片 | D型 | C型 | M1 | ||
| 試片厚度 微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
| 試片長度 毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
| 試片寬度 毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 | |
| 分割線間隔 毫米 | 5±0.5 | |||||
| 圓形人工槽直徑 毫米 | 高靈敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | 12 | |
| 中靈敏度 | 9 | |||||
| 低靈敏度 | 6 | |||||
| 十字人工槽長度 毫米 | 高靈敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | ||
| 中靈敏度 | ||||||
| 低靈敏度 | ||||||
人工槽深度 微米 | 高靈敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| 中靈敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
| 低靈敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
| 人工槽寬度 微米 | 60—180 | |||||
磁粉探傷標準試片使用方法：
標準試片適用于連續(xù)磁化法，使用時應將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測時一般應選用A130/100型標準試片。當檢測坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測；當用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時，可選用規(guī)定的試片檢測。
標準試片在檢測前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測后請防銹。
標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理；A2試片未經(jīng)過退火處理。
C型標準試片可剪成5個小試片分別使用。
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