方糖硬度測試儀/糖類硬度檢測儀/方糖硬度計(jì)/方糖硬度儀 DP-5011

方糖硬度測試儀特點(diǎn)：

1、采用芯片控制，測力傳感器，精度高。

2、采用電機(jī)，滾珠絲桿傳動(dòng)，儀器傳動(dòng)。

3、大觸摸屏中文顯示，自動(dòng)完成測試。操作方便，具有測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理功能,微型打印機(jī)輸出。

4、探頭和配件。

技術(shù)參數(shù)：

測量范圍：（0~200）N 或（200）kgf

分辨力：0.01N

示值準(zhǔn)確度：<±1%，

試驗(yàn)速度：1mm/s（0-1.3）mm/s 可調(diào)

電壓：220V 50Hz

大電流鐵芯測試儀/大電流鐵芯檢測儀   型號(hào)：DP-HT36

   本鐵芯測試儀用于大尺寸的坡莫合金,微晶合金和需要大電流激勵(lì)的冷軋硅鋼鐵芯的伏安特性的測量,如果被測量鐵芯的平均磁路長度L和有效截面積S已知,還可按公式計(jì)算出鐵芯的幅值磁化強(qiáng)度Hm和幅值磁感應(yīng)強(qiáng)度Bm,從而求出幅值磁導(dǎo)率μa．
  儀器前面板上有二塊數(shù)字面板表,可同時(shí)顯示被測鐵芯的激磁電流I和感應(yīng)電壓U,結(jié)果直觀,適合上述各種鐵芯生產(chǎn)單位快速檢測批量鐵芯的需要,是鐵芯質(zhì)量的有力工具.

大電流鐵芯測試儀/大電流鐵芯檢測儀  技術(shù)參數(shù)：
 n工作頻率：50Hz或60Hz
n 激磁電流： 輸出功率 50VA；輸出電流10A,連續(xù)可調(diào).
n 激磁電流測量：二個(gè)量程:   1.999A,10.00A
 測量準(zhǔn)確度: ±2%   ±1個(gè)字

感應(yīng)電壓測量：三個(gè)量程: 19.99mV, 199.9mV, 1.999V
  測量準(zhǔn)確度: ±2%   ±1個(gè)字
n 儀器功率源：單相50Hz或60Hz,AC220V±2%；消耗功率 100VA
n 儀器尺寸：400′122′280mm
n 重量:10Kg
n 工作環(huán)境:溫度　23±10℃;濕度:＜90％

新鐵芯測試儀/新鐵芯檢測儀/新鐵芯測定儀   型號(hào)：DP-HT35A

本儀器適用于各種閉合（如環(huán)型）軟磁鐵芯伏安特性的測量。測量頻率為50/60Hz。初級(jí)磁化電流0-200.0mA連續(xù)可調(diào)。次級(jí)感應(yīng)電壓測量分三個(gè)量程：0 - 200.0mV、0 - 2.000mV和0 - 20.00mV。用本儀器進(jìn)行測量時(shí)，初、次級(jí)均為單匝。測試工裝利用話筒插頭穿過被測閉合鐵芯的簡便操作，即可完成快速檢驗(yàn)工作。
 本儀器是在DP-HT35的基礎(chǔ)進(jìn)行更新改進(jìn)，電流電壓可同時(shí)顯示。單機(jī)控制，產(chǎn)品測定值可靠有效，適合批量生產(chǎn)快速測量
技術(shù)參數(shù)：

 n初級(jí)磁化電流范圍：0-200.0mA。
n 初級(jí)磁化電流準(zhǔn)確度：+1.5%讀數(shù)值+1.5%滿度值。
n 次級(jí)感應(yīng)電壓測量范圍：0 – 200.0 mV（分辨率為0.1mV）;0 – 2.000 mV（分辨率為0.001mV）;0 – 20.00 mV（分辨率為0.01mV）。
n 次級(jí)感應(yīng)電壓測量準(zhǔn)確度：  +1.5%讀數(shù)值+1.5%滿度值。
n 電源：單相交流220V，50Hz。
n 尺寸：320′240′140mm
     重量：4kg

四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀   型號(hào)：DP-SB100A/21A

DP-SB100A/21A是DP-SB100A/21的升級(jí)版，其為用戶提供了使用DP-SB100A/21進(jìn)行四探針測試及實(shí)驗(yàn)的配套軟件，可運(yùn)行于PC機(jī)上，能兼容運(yùn)行在Winxp和Win7系統(tǒng)中，用于自動(dòng)獲取實(shí)驗(yàn)臺(tái)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，并根據(jù)條件生成曲線和報(bào)表，輔助實(shí)驗(yàn)人員自動(dòng)完成實(shí)驗(yàn)，直觀的分析數(shù)據(jù)，獲得實(shí)驗(yàn)結(jié)論，保存實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-5—106Ω。
該測量儀由DP-SB118/21型電壓電流源，DP-SB120/2四探針樣品測試平臺(tái)及1臺(tái)電腦（選購），并附有配套的軟件系統(tǒng)等組成。產(chǎn)品的硬件詳情可參見DP-SB100A/21及相應(yīng)產(chǎn)品的介紹 。
該產(chǎn)品的軟件系統(tǒng)為用戶提供參數(shù)設(shè)置、實(shí)驗(yàn)流程、實(shí)驗(yàn)方式、數(shù)據(jù)分析、曲線報(bào)表，并在后臺(tái)數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行長期保存，實(shí)驗(yàn)人員可以查詢以前的任何一次實(shí)驗(yàn)的結(jié)果、所有的曲線和報(bào)表都可提供打印功能。
DP-SB118/21型直流電壓電流源 （帶RS232C接口，詳見該產(chǎn)品使用說明書）
l  直流電壓源：輸出電壓范圍  0~50V  分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續(xù)調(diào)節(jié)，分辨力為1μV，基本誤為0.05%RD±0.02%FS。
l  數(shù)字電壓表（4?LED）利用電壓源部分“取樣"端可對被測電壓進(jìn)行測試，測量量程為20mV、200mV、2V、20V、50V（200V），分辨力為可達(dá)1μV，基本誤：0.05%RD±0.02%FS。
l  直流電流源：輸出電流范圍  0~200mA  分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五檔，每檔輸出電流可連續(xù)調(diào)節(jié)，分辨力為1nA，基本誤為0.03%。
l  儀器后面板配有一個(gè)為PC/RS232C接口連接至PC機(jī)上，可利用PC機(jī)上的“終端"獲得儀器的測量數(shù)據(jù)。
DP-SB120/2四探針樣品平臺(tái)（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導(dǎo)體/半導(dǎo)體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。

四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀   型號(hào)：DP-SB100A/20A

DP-SB100A/20A是DP-SB100A/20的升級(jí)版，其為用戶提供了使用DP-SB100A/20進(jìn)行四探針測試及實(shí)驗(yàn)的配套軟件，可運(yùn)行于PC機(jī)上，能兼容運(yùn)行在Winxp和Win7系統(tǒng)中，用于自動(dòng)獲取實(shí)驗(yàn)臺(tái)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，并根據(jù)條件生成曲線和報(bào)表，輔助實(shí)驗(yàn)人員自動(dòng)完成實(shí)驗(yàn)，直觀的分析數(shù)據(jù)，獲得實(shí)驗(yàn)結(jié)論，保存實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-6—106Ω。
該測量儀由DP-SB118/20型電壓電流源，DP-PZ158A型直流數(shù)字電壓表，DP-SB120/2四探針樣品測試平臺(tái)及1臺(tái)電腦（選購），并附有配套的軟件系統(tǒng)等組成。產(chǎn)品的硬件詳情可參見DP-SB100A/20及相應(yīng)產(chǎn)品的介紹 。
該產(chǎn)品的軟件系統(tǒng)為用戶提供參數(shù)設(shè)置、實(shí)驗(yàn)流程、實(shí)驗(yàn)方式、數(shù)據(jù)分析、曲線報(bào)表，并在后臺(tái)數(shù)據(jù)庫中進(jìn)行長期保存，實(shí)驗(yàn)人員可以查詢以前的任何一次實(shí)驗(yàn)的結(jié)果、所有的曲線和報(bào)表都可提供打印功能。
DP-SB118/20型直流電壓電流源 （帶RS232C接口，詳見該產(chǎn)品使用說明書）
l  直流電壓源：輸出電壓范圍  0~50V  分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續(xù)調(diào)節(jié)，分辨力為1μV，基本誤為0.1%。
l  直流電流源：輸出電流范圍  0~200mA  分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五檔，每檔輸出電流可連續(xù)調(diào)節(jié)，分辨力為1nA，基本誤為0.03%。
l  儀器后面板配有二個(gè)RS232C接口,，一個(gè)為DP-PZ158A/RS232C接口連接至DP-PZ158A，另一個(gè)為PC/RS232C接口連接至PC機(jī)上，可利用PC機(jī)上的“終端"獲得儀器的測量數(shù)據(jù)。
DP-PZ158A型數(shù)字電壓表（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
可測量0~1000V直流電壓  具有200mV、2V、20V、200V、1000V五檔量程，高分辨力為0.1μV，基本誤為0.003%。
DP-SB120/2四探針樣品平臺(tái)（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導(dǎo)體/半導(dǎo)體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。