Werth測量機(jī)的測量范圍從幾十個毫米到數(shù)米，精度從幾個微米到百個納米，測量分辨率到達(dá)1個納米，可以集成進(jìn)去使用的測量傳感器：接觸式單點(diǎn)、接觸式掃描、低接觸力測頭、激  光、激光線掃描、快速激光、WERTH光纖側(cè)頭，WERTH光學(xué)測頭、普通光學(xué)測頭、可見光干涉測頭、接觸式和激光復(fù)合的粗糙度測頭，WERTH CT (X 光高精度)測頭等十多種。

Werth Low Force Probe LFP：
應(yīng)用優(yōu)點(diǎn) 
 
◆  適合于橡膠件，塑料件，薄壁件和其它靈活材料零件的測量
◆  由于LFP的接觸力非常之小，可以省去復(fù)雜的工件裝卡
◆  由于LFP的接觸力非常之小，測量桿可以做到非常長(40毫米)或者非常短(0.3到1.6毫米)，測量頭的直徑也可以做得非常小
◆  LFP的構(gòu)造(沒有可移動件，非磁性的材料)使其可以測量帶有磁性的工件
◆  全面地集成到Werth多傳感器測量概念中
◆  超高精度的5向接觸的測頭 
◆  安裝選項 
-在PH6或者PH1頭部的M8螺紋上安裝 
-通過在PH10M上的自動連接器PAA1，連接頭SP25/SP600或者M(jìn)IH 
  
*) 的可靠的接觸測量偏差；使用Werth 標(biāo)準(zhǔn)體，根據(jù)ISO 10360和VDI 2617 
技術(shù)數(shù)據(jù)：

◆ 接觸力小于0.0001牛頓
◆ 測量方向 +/-X, +/-Y, +Z
◆ 接觸精度 MPE*
 (測量頭連接桿的長度40毫米，測量頭的直徑為1毫米):
◆ 單點(diǎn)測量：
     P1: 0.75 μm
     P2: 1.5 μm
     P3: 4.5 μm

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