MS205DU電子天平,梅特勒天平MS205DU

梅特勒電子天平MS205DU

 

無論是簡單的日常工作，還是復雜的稱量程序，NewClassic MS半微量天平將的性能和提高生產力進行了的結合，這一切都來源于快速的穩定時間以及一貫的可靠結果。
來自瑞士的高分辨率稱量技術（HRT），保證了整個稱量范圍內的始終精確。
快速獲得稱量結果 – 價值永恒
創新左右手互換開關門（ErgoDoor）使樣品的稱量盡可能簡單和方便。
內置日期和時間功能，進行符合GLP/GMP規范的打印輸出，確保您的研究的全面控制和可追溯性。

技術參數：
極限值：
zui大量程1：220克，可讀性0.1mg
zui大量程2：82克，可讀性0.01mg
重復性（額定負載）1）：0.08毫克（200克）
重復性（低負荷）1）：
線性偏差：0.2毫克
靈敏度偏移量2）：0.8毫克（200克）

典型值：
重復性（額定負載）1）：0.07毫克（200克）
重復性（低負荷）1）：0.015毫克（20克）
zui低重量（根據美國藥典）：45毫克
zui小重量（@u= 1％，2個標準差）：3毫克
典型穩定時間：4s/8s
靈敏度偏移量2）：0.6毫克（200克）

尺寸：
秤盤尺寸（mm）：直徑80
天平外形尺寸長寬高（mm）：358x247x331

注：
1）標準差（SD）
2）全自動校準開啟時的靈敏度穩定性