概括
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)是一款易于使用的工具，用于快速測(cè)量材料的薄層電阻，電阻率和電導(dǎo)率。 通過(guò)使用我們自己的源測(cè)量單元，我們能夠創(chuàng)建一個(gè)低成本的系統(tǒng)，使測(cè)量范圍更廣泛。 探頭采用彈簧加載接觸，而不是尖銳的針頭，防止損壞精密樣品，如厚度在納米左右的聚合物薄膜。
? 廣泛的測(cè)量范圍 - 四點(diǎn)探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流，并且可以測(cè)量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測(cè)量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多種材料。
? 非破壞性測(cè)試 - 設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了精密樣品的測(cè)量，四點(diǎn)探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭， 60克的恒定接觸力，防止探針刺破脆弱的薄膜，同時(shí)仍能提供良好的電接觸。
? 節(jié)省空間的設(shè)計(jì) - 通過(guò)垂直堆疊組件，我們能夠?qū)⑺狞c(diǎn)探頭的占地面積降至zui低（總臺(tái)面面積12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏貨架空間的實(shí)驗(yàn)室中使用。
? 易于使用 - 只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，即可開(kāi)始使用！ 直觀的界面和清潔的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化了薄膜電阻的測(cè)量。
? 快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測(cè)量和計(jì)算，從而使材料表征變得毫不費(fèi)力。
? 要忘記保存您的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) - 用于測(cè)量的設(shè)置會(huì)與數(shù)據(jù)一起保存，從而輕松查看實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)信息。 此外，這些設(shè)置文件可以通過(guò)相同的軟件加載，加快重復(fù)測(cè)量和材料表征。 用更少的時(shí)間重復(fù)測(cè)量，您的研究成果可以顯著增加。
技術(shù)參數(shù)：
電壓范圍 | 100μV至10 V |
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探針間距 | 1.27毫米 |
矩形樣本大小范圍 | 長(zhǎng)邊zui小值：4毫米 短邊zui大值：60毫米 |
圓形樣品尺寸范圍（直徑） | 4毫米到76.2毫米 |
zui大樣品厚度 | 5毫米 |
總體尺寸 | 寬度：120毫米 高度：100毫米 深度：300毫米 |
支持的操作系統(tǒng) | Windows Vista,7,8和10（64位） |
zui小顯示器分辨率 | 1440 x 900 |
建議的監(jiān)視器分辨 | 1920 x 1080 |
所需的硬盤(pán)空間 | 400 MB |
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