FT-341 四探針方阻測試儀
采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：PC軟件進行數據管理和處理.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
FT-341 四探針方阻測試儀應用
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
| 規格型號 | FT-341 |
| 1.方塊電阻 | 10^-5～2×10^5Ω/□ |
| 2.電阻率 | 10^-6～2×10^6Ω-cm |
| 3.測試電流 | 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
| 4.電流精度 | ±0.1% |
| 5.電阻精度 | ≤0.3% |
| 6.顯示讀數 | 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
| 7.測試方式 | 雙電測量 |
| 8.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
| 9.誤差 | ≤3%（標準樣片結果） |
| 10.選購功能 | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻. |
| 11.測試探頭 | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
| 12.標準電阻（選購） | 規格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
FT-341 四探針方阻測試儀配置
| 序號 | 型號 | 品名 | 單位 | 數量 | 備注 |
| 1 | 340-CSX | 測試線 | 套 | 1 |
|
| 2 | 09A | 標準電阻 | 個 | 1-5 | 選購規格和數量 |
| 3 | 06A | 四探針測試平臺 | 套 | 1 | 含探頭1個 |
| 4 | 06B | 四探針探頭 | 個 | 1 | 方型或直線型選購 |
| 5 | 340-TTZ | 鍍金彈簧銅針4根 | 組 | 1 | 4根為一組 |
| 6 | 340-WTZ | 彈簧鎢針4根 | 組 | 1 | 4根為一組 |
| 7 | 340-RJ | 分析軟件 | 套 | 1 |
|
| 8 | PC | 電腦+打印機 | 套 | 1 | 依據客戶要求配置 |
| 9 | 300-JL | 檢測技術服務 | 份 | 1 | 計量證書1份 |
| 10 | WDCGQ | 溫度傳感器 | 套 | 1 | 常溫-125度 |
|
| 341-YB | 延保服務 | 年 | 1-3 |
|
所有評論僅代表網友意見，與本站立場無關。