LP-701型四探針探頭

LP-701型四探針探頭(長把手設計)是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
 

LP-701型四探針探頭特性及規格：
1；特制之長把手設計手握式探筆，把手長度14cm
2；球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3；探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞
4；探頭使用壽命長
5；探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ