能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)，光譜儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 采用zuixian進(jìn)的美國SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探測器，分辨率更高，大大提高了輕元素的檢出限，標(biāo)準(zhǔn)檢出限較SI-PIN探測器提高100倍；測量范圍更寬，基本涵蓋了各種常規(guī)材料元素分析要求；

2. 配置美國數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng)，數(shù)據(jù)采集速度更快，測量更穩(wěn)定，重復(fù)性和穩(wěn)定性更好；

3. 配置開發(fā)的測量軟件，集成多種圖形計(jì)算方法，測量數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)，更穩(wěn)定；

4. 軟件全面監(jiān)控儀器主要核心部件運(yùn)行狀態(tài)，使用更安全；

5. 配置專門開發(fā)的真空系統(tǒng)，真空性能更好，測試效果更佳；

技術(shù)參數(shù):

1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)

2..元素含量分析范圍為1ppm到99.99％

3. zui低檢出限：1ppm

4. 測量時(shí)間：60-200秒(可調(diào))

5. 儀器工作電源：AC220±5V

6. 能量分辨率為129±5eV

7. X 射線光管zui大輸出電流：1mA

8. 極限壓力：6.7×10^-2 Pa

9.樣品腔尺寸：610320100(mm)（不抽真空）/Φ100h75(mm) (真空樣品腔)

10.多次測量重復(fù)性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn))：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)

11.工作穩(wěn)定性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn))±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量)

△ 同類型儀器有WKX(34W)驗(yàn)鋼鏡，WK3小型看譜鏡，WK4小型看譜鏡。

WKX(34W)驗(yàn)鋼鏡(看譜鏡)，WK1臺式看譜鏡(驗(yàn)鋼鏡)，WK3小型看譜鏡(驗(yàn)鋼鏡)，WK4光纖看譜鏡(驗(yàn)鋼鏡)，WK5輕型看譜鏡，，交流電弧火花發(fā)生器工作臺，驗(yàn)鋼鏡(看譜鏡)系列，能量色散X射線熒光光譜儀EDX6600，能量色散X射線熒光光譜儀EDX8300，能量色散X熒光光譜儀EDX8600，能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)，光譜儀，能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)，光譜儀