產品簡介
提供*的圖像質量和穩固可靠的機械結構
使用專業的金相物鏡及平場目鏡，成像質量好，分辨率高，觀察舒適
廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域
詳情介紹
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| IE200M系列金相顯微鏡 ■使用專業的金相物鏡及平場目鏡，成像質量好，分辨率高，觀察舒適。 ■提供*的圖像質量和穩固可靠的機械結構。 ■選配相應的攝影攝像附件，可對觀察圖像進行采集和保存，配電腦和專業金相分析軟件 圖像進行金相圖像分析。 ■操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分 析、精密工程測量等領域。 技術規格 光學系統 | 有限遠色差校正系統 | 觀察筒 | 鉸鏈式三目，45°傾斜，雙邊±5屈光度可調，瞳距調節范圍：54-75mm，固定式分光比，雙目:三目=80%:20% | 目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm | 高眼點大視野目鏡WF15X/13 | 高眼點大視野目鏡WF20X/10mm | 金相物鏡 | 長工作距平場消色差專業金相物鏡5X，10X，20X，50X、100X | 轉換器 | 內定位四孔轉換器 | 內定位五孔轉換器 | 調焦機構 | 低手位粗微調同軸調焦機構，粗動每轉行程38 mm；微調精度2um，帶松緊調節機構 | 載物臺 | 三層機械移動平臺，面積180mmX155mm，右手低手位控制，行程:75mm×40mm; 金屬載物臺板，中心孔直徑φ12mm | 照明系統 | 反射式柯拉照明，帶可變孔徑光闌和中心可調視場光闌，自適應90V-240V寬電壓 6V30W鹵素燈（可選配單顆3W LED燈），光強連續可調 | 偏光裝置 | 起偏鏡和檢偏鏡均可移出光路，檢偏鏡插板可360°旋轉 | 攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 | 攝像裝置 | 0.5X/1.0X C型攝像接筒 | 軟件 | 專業金相分析軟件 |
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