美國泛美 38DL Plus超聲波測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。具有性能高級、操作簡便、堅固耐用、結果可靠適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭兼容。功能齊全的可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。

• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
• 帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
• 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
• 設計符合EN15317標準。

交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
• 內置數據記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊
• 兩年有限擔保

美國泛美 38DL Plus超聲波測厚儀測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、蕞小值/蕞大值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調用應用、溫度補償、平均值/蕞小值模式