X射線鍍層測厚儀產品描述：

　　BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

　　鍍層測厚儀即使在客戶遇到嚴格的測試要求時也能夠實現快速、方便、高效的XRF分析效果。

　　智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內顯著提升您的鍍層產品質量控制。

　　性能與可操作性的化

　　 緊湊式設計，改善效率和精度

　　 高分辨半導體固態探測器（Si-PIN），提高穩定性和靈敏度

　　 更短的預熱時間，更長壽命的光管

　　 多種規格一次濾波器和準直器

　　 可變焦距適應復雜樣品的測量需求

　　 模塊化設計，方便維修、維護

　　簡單的設計、*的分析能力

　　 快速、無損的分析

　　 成份分析多可達25種元素

　　 同時可多分析5層

　　 基于基本參數法的鍍層和成份分析方法

　　 僅需一根USB線與電腦連接

　　 快捷的面板控制按鈕

　　 占用空間小、輕量化設計

　　直觀的用戶界面

　　 的分析靈活性，減少用戶出錯機會

　　 基于Net framework框架的Xralizer軟件

　　 直觀的圖標引導用戶界面

　　 *的定性、無標樣分析功能

　　 功能*的標準片庫

　　 用于快速分析的可定制快捷鍵

　　 靈活的數據顯示與導出

　　 *的報告編輯生成器

　　應用領域：

　　常見的鍍層應用：

　　汽車

　　Cr/Ni/Cu/ABS

　　Zn/Fe

　　線路板

　　Au/ENi/CuPCB（ENIG）

　　Ag或Sn/CuPCB

　　引線框架和連接器

　　Au/Pd/Ni/Cu Alloys

　　Au/Ni/Ni/Fe

　　緊固件

　　ZnFe/Fe

　　ZnNi/Fe

　　切削工具

　　TiCN/WCo

　　TiAlN/WC

　　五金和管道固定裝置

　　Ni/Cu

　　Cr/Ni/Cu/Zn

　　通訊和數據儲存設備

　　NiP/Al

　　珠寶、貴金屬

　　10,14,18Kt

　　元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等