痕量分析TXRF 光譜儀
TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內(nèi)。
便攜式全反射熒光儀，設(shè)備小巧，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等，可拿到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析。
1位及25位全自動(dòng)進(jìn)樣器兩款設(shè)計(jì)，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動(dòng)分析。
第四代XFlash®SDD硅漂移探測(cè)器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。
由于全反射無背景，熒光強(qiáng)度與元素含量直接成正比。標(biāo)準(zhǔn)曲線工廠已校準(zhǔn)好，用戶不需要標(biāo)樣就可以進(jìn)行定量分析。
行業(yè)應(yīng)用：
水、廢水、土壤中的污染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫(yī)藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質(zhì)等領(lǐng)域。
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