ED400測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產生的高頻電磁場, 使置于測頭下的金屬導體產生渦流,其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數. 即該渦流產生的交變電磁場會改變測頭參數,而測頭參數變量的大小,并將這一電信號轉換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度.
ED400測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
特點：
ED400型渦流測厚儀測量范圍0～500 μm。
測量精度達到2%。
分辨率達到0.1 μm。
只校正“0”和“50 μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。
采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性提高。
采用的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現場使用。
采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
技術參數：
| 技術參數 | |
| 測量范圍： | 0～500 μm |
| 測量精度： | 0～50 μm：±1 μm； |
| 50～500 μm：±2% | |
| 分 辨 率： | 0～50 μm：0.1 μm； |
| 50～500 μm：1 μm； | |
| 0～500 μm：1 μm（可選） | |
| 使用溫度： | 5～45℃ |
| 外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm |
| 重 量： | 280 g |
標準配置：
主機1臺、探頭一個、基體一片（6063鋁合金）、校正片一套4片（附檢測報告）、儀器箱1個
可選配置：
備用探頭、基體、校正片（附檢測報告）
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