半導體中空玻璃露點儀產品用途：用于檢測中空玻璃露點測試。
產品適用標準：GB/T11944-2012《中空玻璃》
半導體中空玻璃露點儀技術參數：
1、冷測頭的溫度：＜-60℃
2、溫度分辨率：0.1℃
3、測試箱 長×寬×高（mm）：1040×550×820
4、測溫精度：±0.5℃
5、時間范圍：1~10min（可任意設定）
6、時間分辨率：1s
7、配帶動力：交流220V, 功率：0.6Kw
8、自重：40kg
主要特點：
1、運用的復迭式壓縮機制冷技術；
2、操作簡單，顯示直觀。
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