脈沖測(cè)試儀是一種能夠削減器材總能耗的丈量技能。它通過(guò)削減焦耳熱效應(yīng)（例如I2R和V2/R），避免對(duì)小型納米器材可能形成的損壞。脈沖測(cè)試儀采用足夠高的電源對(duì)待測(cè)器材（DUT）施加間隔很短的脈沖，發(fā)生高品質(zhì)的可測(cè)信號(hào)，然后去掉信號(hào)源。

　　通過(guò)脈沖測(cè)試儀，工程技能人員可以獲得更多的器材信息，更準(zhǔn)確地分析和掌握器材的行為特征。例如，使用脈沖測(cè)試儀技能可以對(duì)納米器材進(jìn)行瞬態(tài)測(cè)驗(yàn)，確定其搬運(yùn)函數(shù)，然后分析待測(cè)資料的特征。脈沖測(cè)試儀丈量關(guān)于具有恒溫限制的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和納米器材，可以避免自熱效應(yīng)，避免自熱效應(yīng)掩蓋研討人員所關(guān)懷的呼應(yīng)特征。

　　器材工程師還可以使用脈沖測(cè)試儀技能分析電荷抓獲效應(yīng)。在晶體管開(kāi)啟后電荷抓獲效應(yīng)會(huì)降低漏極電流。隨著電荷逐步被抓獲到柵介質(zhì)中，晶體管的閾值電壓由于柵電容內(nèi)建電壓的升高而增大；然后漏極電流就降低了。

　　脈沖測(cè)試儀為人們和研討納米材料、納米電子和目前的半導(dǎo)體器材供給了一種重要手法。脈沖測(cè)試儀有兩種不同的類型：加電壓脈沖和加電流脈沖。

　　電壓脈沖測(cè)試儀發(fā)生的脈沖寬度比電流脈沖測(cè)試儀窄得多。這一特性使得電壓脈沖測(cè)試儀更適合于熱傳輸實(shí)驗(yàn)，其中咱們所關(guān)懷的時(shí)間窗口只要幾百納秒。電流脈沖測(cè)試儀與電壓脈沖測(cè)試儀十分類似。