經過脈沖測試，工程技術人員可以獲得更多的器材信息，更準確地分析和掌握器材的行為特征。例如，使用脈沖測試技術可以對納米器材進行瞬態測試，確認其搬運函數，然后分析待測材料的特征。

　　脈沖測試儀的測量對于具有恒溫限制的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和納米器材，可以防止自熱效應，防止自熱效應掩蓋研討人員所關懷的呼應特征。器材工程師還可以使用脈沖測試技術分析電荷抓獲效應。在晶體管開啟后電荷抓獲效應會降低漏極電流。隨著電荷逐步被抓獲到柵介質中，晶體管的閾值電壓由于柵電容內建電壓的升高而增大；然后漏極電流就降低了。

　　脈沖測試儀為人們和研討納米材料、納米電子和現在的半導體器材供給了一種重要手法。脈沖測試有兩種不同的類型：加電壓脈沖和加電流脈沖。

　　電壓脈沖測試發生的脈沖寬度比電流脈沖測試窄得多。這一特性使得電壓脈沖測試更適合于熱傳輸實驗，其間我們所關懷的時間窗口只要幾百納秒。經過高精度的幅值和可編程的上升與降低時間能夠控制納米器材上的能耗巨細。電壓脈沖測試可用于可靠性測試中的瞬態分析、電荷抓獲和交流應力測試，也可用于發生時鐘信號，模擬重復控制線，例如存儲器讀寫周期。

　　電流脈沖測試與電壓脈沖測試十分類似。其間，將的電流脈沖加載到DUT上，然后測量器材兩頭發生的電壓。電流脈沖測試常用于測量較低的電阻，或許獲取器材的I-V特征曲線，而不會使DUT發生大量的能耗，防止對納米器材的危害或破壞。