| 環境試驗標準目錄 |
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| 技術標準目錄 2004年5月20日 |
| 1.GB/T2421-1999 電工電子產品環境試驗 第1部分:總則 2.GB/T2422-1995 電工電子產品環境試驗 術語 3.GB/T2423.1-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法 4.GB/T2423.2-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法 5.GB/T2423.3-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法 6.GB/T2423.4-1993 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法 7.GB/T2423.5-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊 8.GB/T2423.6-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞 9.GB/T2423.7-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品) 10.GB/T2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落 11.GB/T2423.9-1989 電工電子產品環境基本環境試驗規程試驗Cb:設備用恒定濕熱試驗方法 12.GB/T2423.10-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fc和導則:振動(正弦) 13.GB/T2423.11-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fd:寬頻帶隨要振動-一般要求 14.GB/T2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fda:寬頻帶隨機振動-高再現性 15.GB/T2423.13-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fdb:寬頻帶隨機振動-中再現性 16.GB/T2423.14-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fdc:寬頻帶隨機振動-低再現性 17.GB/T2423.15-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ga和導則:穩態加速度 18.GB/T2423.16-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗J和導則長霉 19.GB/T2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ka:鹽霧試驗方法 20.GB/T2423.18-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) 21.GB/T2423.19-1981 電工電子產品基本試驗規程試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法 22.GB/T2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Kd:接觸點和連接件的硫經氫試驗方法 23.GB/T2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程試驗M:低氣壓試驗方法 24.GB/T2423.22-1987 電工電子產品基本環境試驗規程試驗N:溫度變化試驗方法 25.GB/T2423.23-1995 電工電子產品環境試驗 試驗Q:密封 26.GB/T2423.24-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射 27.GB/T2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗 28.GB/T2423.26-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗 29.GB/T2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法 30.GB/T2423.28-1982 電工電子產品基本環境試驗規程試驗T:錫焊試驗方法 31.GB/T2423.29-1990 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗U:引出端及整體安裝件強度 32.GB/T2423.30-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬 33.GB/T2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法 34.GB/T2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程潤濕稱量法可焊性試驗方法 35.GB/T2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法 36.GB/T2423.34-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗方法 37.GB/T2423.35-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 38.GB/T2423.36-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/Bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法 39.GB/T2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗L:砂塵試驗方法 40.GB/T2423.38-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗R:水試驗方法 41.GB/T2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ee:彈跳試驗方法 42.GB/T2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 43.GB/T2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程風壓試驗方法 44.GB/T2423.42-1995 電工電子產品環境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法 45.GB/T2423.43-1995 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(Fc和Fd)和穩態加速度(Ga)等動力學試驗中的安裝要求和導則 46.GB/T2423.44-1995 電工電子產品基本環境試驗第2部分:試驗方法試驗Eg:撞擊彈簧錘 47.GB/T2423.45-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序 48.GB/T2423.46-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Ef:撞擊擺錘 49.GB/T2423.47-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fg:聲振 50.GB/T2423.48-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Ff:振動-時間歷程法 51.GB/T2423.49-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Fe:振動-正弦拍頻法 52.GB/T2423.50-1999 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 53.GB/T2423.51-2000 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗 54.GB/T2424.1-1989 電工電子產品基本環境試驗規程高溫低溫試驗導則 55.GB/T2424.2-1993 電工電子產品基本環境試驗規程濕熱試驗導則 56.GB/T2424.10-1993 電工電子產品基本環境試驗規程大氣腐蝕加速試驗的通用導則 57.GB/T2424.11-1982 電工電子產品基本環境試驗規程接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則 58.GB/T2424.12-1982 電工電子產品基本環境試驗規程接觸點和連接件的硫化氫試驗導則 59.GB/T2424.13-1981 電工電子產品基本環境試驗規程溫度變化試驗導則 60.GB/T2424.14-1995 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法太陽輻射試驗導則 61.GB/T2424.15-1992 電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則 62.GB/T2424.17-1995 電工電子產品環境試驗錫焊試驗導則 63.GB/T2424.19-1984 電工電子產品基本環境試驗規程模擬貯存影響的環境試驗導則 64.GB/T2424.20-1985 電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗導則 65.GB/T2424.21-1985 電工電子產品基本環境試驗規程潤濕稱量法可焊性試驗導則 66.GB/T2424.22-1986 電工電子產品基本環境試驗規程溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導則 67.GB/T2424.23-1990 電工電子產品基本環境試驗規程水試驗導則 68.GB/T2424.24-1995 電工電子產品環境試驗溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導則 69.GB/T2424.25-2000 電工電子產品環境試驗第3部分:試驗導則地震試驗方法 70.GB/T10593.1-1989 電工電子產品環境參數測量方法振動 71.GB/T10593.2-1990 電工電子產品環境參數測量方法鹽霧 72.GB/T10593.3-1990 電工電子產品環境參數測量方法振動數據處理和歸納 73.GB/T8430-1998 紡織品色牢度試驗耐人造氣候色牢度:氙弧 74.GB/T8427-1998 紡織品色牢度試驗耐人造光色牢度:氙弧 75.GB/T1865-1997 色漆和清漆人工氣候老化和人工輻射暴露(濾過的氙弧輻射) 76.GB/T16422.1-1999 塑料實驗室光源暴露試驗方法**部分:通則 77.GB/T16422.2-1999 塑料實驗室光源暴露試驗方法**部分:氙弧燈 78.GB/T12831-1991 硫化柏膠人工氣候(氙燈)老化試驗方法 79.GB/T2951.1~2951.10-1997 電纜絕緣和護套材料通用試驗方法 80.GB11606.1~17-89 分析儀器環境試驗方法 81.GB12085.1~14 光學和光學儀器環境試驗方法 82.GB6808-86 鋁及鋁合金陽極氧化著色陽極氧化膜耐曬度的人造光加速試驗 83.GB9868-88 柏膠獲得高于或低于常溫試驗溫度通則 84.GB/T12584-90 柏膠或塑料涂覆的低溫沖擊試驗 85.GB/T10125-1997 人造氣候腐蝕試驗鹽霧試驗 86.GB/T14710-93 醫用電氣設備環境要求及試驗方法 87.GB/T17782-1999 硫化柏膠壓力空氣熱老化試驗方法 88.GB/T7020-86 中空玻璃試驗方法 89.GB/T3512-2001 硫化柏膠或熱塑柏膠熱空氣加速老化和耐熱試驗 90.GB/T13951-92 移動式平臺及海上設施用電工電子產品環境試驗一般要求 91.GJB4239-2001 環境裝備工程通用要求 92.GJB150.1-86 設備環境試驗方法總則 93.GJB150.2-86 設備環境試驗方法低氣壓(高度)試驗 94.GJB150.3-86 設備環境試驗方法高溫試驗 95.GJB150.4-86 設備環境試驗方法低溫試驗 96.GJB150.5-86 設備環境試驗方法溫度沖擊試驗 97.GJB150.6-86 設備環境試驗方法溫度-高度試驗 98.GJB150.7-86 設備環境試驗方法太陽輻射試驗 99.GJB150.8-86 設備環境試驗方法淋雨試驗 100.GJB150.9-86 設備環境試驗方法濕熱試驗 101.GJB150.10-86 設備環境試驗方法霉菌試驗 102.GJB150.11-86 設備環境試驗方法鹽霧試驗 103.GJB150.12-86 設備環境試驗方法砂塵試驗 104.GJB150.13-86 設備環境試驗方法爆炸性大氣試驗 105.GJB150.14-86 設備環境試驗方法浸漬試驗 106.GJB150.15-86 設備環境試驗方法加速度試驗 107.GJB150.16-86 設備環境試驗方法振動試驗 108.GJB150.17-86 設備環境試驗方法噪聲試驗 109.GJB150.18-86 設備環境試驗方法沖擊試驗 110.GJB150.19-86 設備環境試驗方法溫度-濕度-高度試驗 111.GJB150.20-86 設備環境試驗方法飛機炮振試驗 112.GJB1027-90 衛星環境試驗要求 113.GJB1032-90 電子產品環境應力篩選方法 114.GJB128A-97 半導體與器件試驗方法 115.GJB150.1~17-84 航空電線電纜試驗方法 116.GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 117.GJB4.1-83 艦船電子設備環境試驗 118.GJB573A-98 引信環境與試驗方法 |
