手機(jī)可靠性測(cè)試分析
產(chǎn)品可靠性是設(shè)計(jì)和制造出來(lái)的，但必須通過(guò)試驗(yàn)予以驗(yàn)證。在手機(jī)的研制階段，為了保證手機(jī)具有一定的可靠性水平或提高手機(jī)的可靠性，要通過(guò)可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)暴露手機(jī)的缺陷，進(jìn)而進(jìn)行分析，并采取有效糾正措施，使手機(jī)的可靠性得到增長(zhǎng)。影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。環(huán)境因素多種多樣：溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風(fēng)、雷、電、鹽霧、砂塵、振動(dòng)、沖擊、噪聲、電磁輻射等，都不可避免地對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。
有資料顯示，電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應(yīng)引起：其中由溫度引起的占40%，由振動(dòng)引起的占27%，由濕度引起的占19%，其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障。在手機(jī)投入市場(chǎng)之前，環(huán)境試驗(yàn)被用來(lái)評(píng)估環(huán)境影響手機(jī)的程度，當(dāng)手機(jī)的功能受到了影響，環(huán)境試驗(yàn)被用來(lái)查明原因，并采取措施保護(hù)手機(jī)免受環(huán)境影響以保護(hù)手機(jī)的可靠性，環(huán)境試驗(yàn)也被用來(lái)分析手機(jī)在實(shí)際使用過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷以及新產(chǎn)品的改進(jìn)。總之，環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)對(duì)于保證手機(jī)的可靠性是非常有效.
今天筆者從環(huán)境試驗(yàn)方面的角度來(lái)跟您分享高溫工作、低溫、恒溫恒濕試驗(yàn)、冷熱沖擊試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等方面測(cè)試規(guī)范是如何定義要求的？
高溫工作：
1、手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，并在測(cè)試樣機(jī)中儲(chǔ)存好當(dāng)前時(shí)間（北京時(shí)間）、日期、照片、信息、錄音、（需存在手機(jī)里面，不允許存在SIM卡里），如果是翻/滑蓋機(jī)，應(yīng)打開(kāi)放入環(huán)境箱內(nèi)；
2、啟動(dòng)環(huán)境試驗(yàn)箱，設(shè)置溫度從常溫25℃以1℃/min的速率升溫到55℃±2℃（即升溫時(shí)間為：30min）；在55℃的溫度條件下存儲(chǔ)4H；
3、測(cè)試周期過(guò)后，將溫度從55℃以1℃/min的速率降溫到常溫25℃（即降溫時(shí)間為：30min），恢復(fù)兩個(gè)小時(shí)后查看測(cè)試所存的信息是否丟失錯(cuò)亂等，并進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)及功能檢查。
低溫工作：
1、手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，并在測(cè)試樣機(jī)中儲(chǔ)存好當(dāng)前時(shí)間（北京時(shí)間）、日期、照片、信息、錄音、（需存在手機(jī)里面，不允許存在SIM卡里），如果是翻/滑蓋機(jī)，應(yīng)打開(kāi)放入環(huán)境箱內(nèi)；
2、啟動(dòng)環(huán)境試驗(yàn)箱，設(shè)置溫度從常溫25℃以1℃/min的速率降溫到-20℃±2℃（即降溫時(shí)間為：45min）；在-20℃的溫度條件下存儲(chǔ)4H；
3、測(cè)試周期過(guò)后，將溫度從-20℃以1℃/min的速率升溫到常溫25℃（即升溫時(shí)間為：45min），恢復(fù)兩個(gè)小時(shí)后查看測(cè)試所存的信息是否丟失錯(cuò)亂等，并進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)及功能檢查。
恒溫恒濕試驗(yàn)：
1、手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，并在測(cè)試樣機(jī)中儲(chǔ)存好當(dāng)前時(shí)間（北京時(shí)間）、日期、照片、信息、錄音、（需存在手機(jī)里面，不允許存在SIM卡里），如果是翻/滑蓋機(jī)，應(yīng)一半打開(kāi)一半閉合；
2、啟動(dòng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱，設(shè)置溫度從常溫25℃以1℃/min的速率升溫到50℃±2℃（即升溫時(shí)間為：25min），并設(shè)置濕度95%±3%RH；在此溫度濕度條件下存儲(chǔ)48H；
3、測(cè)試周期過(guò)后，將溫度從50℃以1℃/min的速率降溫到常溫25℃（即降溫時(shí)間為：25min），恢復(fù)兩個(gè)小時(shí)后查看測(cè)試所存的信息是否丟失錯(cuò)亂等，并進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)及功能檢查。
冷熱沖擊試驗(yàn)：
1、手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，如果是翻/滑蓋機(jī)，應(yīng)打開(kāi)放入冷熱沖擊試驗(yàn)箱中；
2、先在-40℃±2℃的低溫環(huán)境下保持30分鐘，在5分鐘內(nèi)將溫度www.oven.cc切換到70℃±2℃的高溫環(huán)境下并保持30分鐘，共做20個(gè)循環(huán)；
3、測(cè)試周期過(guò)后，將溫度以1℃/min的速率調(diào)到常溫25℃，恢復(fù)兩個(gè)小時(shí)后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)及功能檢查，*后需拆機(jī)檢查。
鹽霧測(cè)試：
1、將待測(cè)手機(jī)用細(xì)繩懸掛置于鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)，如果是翻/滑蓋機(jī)應(yīng)打開(kāi)放置，測(cè)試鹽溶液濃度為5%，PH值為6.5~7.2，測(cè)試箱內(nèi)溫度保持在35±2℃，連續(xù)噴霧24H，后取出用棉布擦拭干凈在常溫下恢復(fù)2H，然后檢查外觀、結(jié)構(gòu)及功能有無(wú)異常；
2、如果是結(jié)構(gòu)件噴霧24H，取出用自來(lái)水（水溫不高于35℃）沖洗5min后用棉布擦拭干凈在常溫下恢復(fù)2H，進(jìn)行外觀檢查。
經(jīng)過(guò)筆者的調(diào)查發(fā)現(xiàn)任何一款手機(jī)新品的上市，都需要經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)單位的嚴(yán)格測(cè)試。這些測(cè)試內(nèi)容中非常重要的一項(xiàng)就是手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及部分部件的壽命試驗(yàn)。在目前的標(biāo)準(zhǔn)文件中，對(duì)環(huán)境試驗(yàn)所規(guī)定的環(huán)境條件通常比手機(jī)使用所處的環(huán)境要嚴(yán)酷的多，并且更有代表性，所以通過(guò)筆者對(duì)環(huán)境中試驗(yàn)中的幾項(xiàng)測(cè)試的闡述，是不是對(duì)手機(jī)的可靠性測(cè)試有了一個(gè)宏觀的認(rèn)知呢？
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