所謂的微量電子天平就是一種可以測(cè)量較小物體的天平，其量程一般在3-30g或0.1-1g。微量電子天平屬于精密電子儀器，因此易受環(huán)境因素的影響，因此可能會(huì)出現(xiàn)測(cè)量誤差較大等問(wèn)題，因此我們就要對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)，尤其是在長(zhǎng)時(shí)間未使用或者位置移動(dòng)的情況下更要進(jìn)行校準(zhǔn)。當(dāng)然我們還要掌握正確的校準(zhǔn)方法，因?yàn)椴徽_的方法很可能會(huì)弄巧成拙。

在檢定（測(cè)試）中我們發(fā)現(xiàn)，對(duì)電子天平進(jìn)行計(jì)量測(cè)試時(shí)誤差較大,究其原因，相當(dāng)一部分儀器，在較長(zhǎng)的時(shí)間間隔內(nèi)未進(jìn)行校準(zhǔn)，而且認(rèn)為天平顯示零位便可直接稱量。

需要指出的是，微量電子天平開(kāi)機(jī)顯示零點(diǎn)，不能說(shuō)明天平稱量的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，只能說(shuō)明天平零位穩(wěn)定性合格。因?yàn)楹饬恳慌_(tái)天平合格與否，還需綜合考慮其它技術(shù)指標(biāo)的符合性。

因存放時(shí)間較長(zhǎng)，位置移動(dòng)，環(huán)境變化或?yàn)楂@得測(cè)量，天平在使用前一般都應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)操作。校準(zhǔn)方法分為內(nèi)校準(zhǔn)和外校準(zhǔn)兩種。德國(guó)生產(chǎn)的沙特利斯，瑞士產(chǎn)的梅特勒，上海產(chǎn)的"JA"系列微量電子天平均有校準(zhǔn)裝置。如果使用前不仔細(xì)閱讀說(shuō)明書(shū)很容易忽略"校準(zhǔn)"操作,造成較大稱量誤差。

有的人認(rèn)為在微量天平量程范圍內(nèi)稱量的物體越重對(duì)天平的損害也就越大。這種認(rèn)識(shí)是不正確的。一般衡器zui大安全載荷是它所能夠承受的、不致使其計(jì)量性能發(fā)生*性改變的zui大靜載荷。由于微量天平采用了電磁力自動(dòng)補(bǔ)償電路原理，當(dāng)秤盤(pán)加載時(shí)（注意不要超過(guò)稱量范圍），電磁力會(huì)將秤盤(pán)推回到原來(lái)的平衡位置，使電磁力與被稱物體的重力相平衡，只要在允許范圍內(nèi)稱量大小對(duì)天平的影響是很小的，不會(huì)因長(zhǎng)期稱重而影響微量天平的準(zhǔn)確度。