A

Analytical X-Ray (分析X射線):

使用 X 射線衍射（XRD）、X射線熒光（XRF）和多種其他 X 射線技術(shù)來研究物質(zhì)的屬性和構(gòu)成。

Arc Lamps (弧光燈):

這種燈使用電弧來發(fā)光。兩個(gè)電極之間分布著一種氣體（汞、氬、氪等），氣體在高壓電下電離，從而形成連續(xù)電弧來發(fā)出可見光。

Automated Test Equipment (ATE) (自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）):

專用的自動(dòng)化驗(yàn)證設(shè)備，用于測試集成電路、印刷電路板或其他類型的電子設(shè)備或組件。

B

Baggage Screening (行李檢查):

使用X射線分析和其他檢驗(yàn)技術(shù)檢查商業(yè)和個(gè)人行李以找出違禁物質(zhì)。

Bone Densitometry (骨質(zhì)密度測定):

一種X射線技術(shù)，用于測量每平方厘米人體骨骼的物質(zhì)量以預(yù)測和治療骨質(zhì)疏松癥。

Bomb Detection Systems (探測系統(tǒng)):

自動(dòng)化探測系統(tǒng)（EDS），使用各種分析技術(shù)來檢查行李中可能存在的或爆炸威脅。

C

Cable Testing (電纜測試):

一種檢測技術(shù)，利用電源設(shè)備的電壓和電流來驗(yàn)證電纜或有線電氣組件中的電氣連接。

Capacitor Charging (電容器充電):

使用高壓電源為用于脈沖功率應(yīng)用的電容器充電。

Capillary Electrophoresis (CE) 毛細(xì)管電泳（CE）:

一種分析技術(shù)，用于按電荷、摩擦力和電荷分離和識(shí)別導(dǎo)電液體培養(yǎng)基中的離子。

Cargo Screening (貨物檢查):

使用 X 射線分析和其他檢驗(yàn)技術(shù)檢查散裝貨物以找出違禁物質(zhì)。

CT Scanner Power Supplies (CT掃描儀電源):

定制設(shè)計(jì)與制造的專用高壓電源，為計(jì)算機(jī)化層析成像應(yīng)用中使用的大功率 X 射線管供電。

Cathode Ray Tubes (CRT) (陰極射線管（CRT）):

包含電子槍的圓錐狀真空管，用來在熒光屏上顯示圖形信息和移動(dòng)圖像。

Channel Electron Multipliers (通道電子倍增器):

一些真空管結(jié)構(gòu)，用于倍增入射電荷，通過稱為二級(jí)發(fā)射的過程使得單個(gè)電子產(chǎn)生眾多電子的級(jí)聯(lián)效應(yīng)。

Channeltrons:

一些真空管結(jié)構(gòu)，用于倍增入射電荷，通過稱為二級(jí)發(fā)射的過程使得單個(gè)電子產(chǎn)生眾多電子的級(jí)聯(lián)效應(yīng)。

Cold Cathode Lamps (冷陰極燈):

這種燈不使用加熱燈絲（熱電子發(fā)射）來產(chǎn)生放大二次電子發(fā)射。

CO2 Lasers (CO2激光器):

連續(xù)波氣體激光器，使用二氧化碳作為主抽送介質(zhì)，基本輸出波長為 9.4 到 10.6 微米。

Corona Generators (電暈發(fā)生器):

此類設(shè)備采用特別設(shè)計(jì)的高壓電源電離空氣以產(chǎn)生電暈。這一過程通常用來產(chǎn)生臭氧，而臭氧用于各種工業(yè)清洗和凈化應(yīng)用。

CT Generators (CT發(fā)生器):

請參閱“CT掃描儀電源”

D

Dielectric Breakdown Testing (介電擊穿測試):

對(duì)電纜或組件施加高水平測試電壓以確定絕緣在什么電壓級(jí)別將會(huì)失效。

Digital X-Ray Detector Panel (數(shù)字X射線探測器面板):

使用可產(chǎn)生數(shù)字化X射線圖像的X射線成像技術(shù)，但不使用傳統(tǒng)和顯影方法。

E

E-Beam Lithography (電子束蝕刻):

以一種圖案方法掃描電子束的技術(shù)，用作半導(dǎo)體制造工廠制造集成電路的精密工藝的一部分。

E-Beam Welding (電子束焊接):

一種熔合過程，高能量的電子束在擊打兩個(gè)金屬表面時(shí)將其動(dòng)能以熱的形式轉(zhuǎn)移并將材料熔合在一起

電子束蒸鍍：

是一個(gè)涂層的過程，其中的電子束熔化材料（絕緣體或?qū)w）在真空中，導(dǎo)致材料轉(zhuǎn)移到氣相，涂層的一切在真空室中有一個(gè)非常細(xì)的和可控的霧。

Electro-Optics (電光學(xué)):

科學(xué)的一個(gè)分支，研究材料的光學(xué)屬性如何受到施加電場的影響。

Electron Microscopes (電子顯微鏡):

用電子束精細(xì)圖像電子放大標(biāo)本輕。波長無固有的局限性，電子顯微鏡可放大到100萬次。

Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA) (用于化學(xué)分析的電子能譜（ESCA）):

一種定量光譜技術(shù)，用于測定材料內(nèi)部存在的元素的組成、經(jīng)驗(yàn)公式、化學(xué)和電子狀態(tài)。

Electrophoresis (電泳):

在均勻電場的作用下分散粒子相對(duì)于流體的運(yùn)動(dòng)。

Electroporation (電穿孔):

通過外部施加電場導(dǎo)致細(xì)胞膜的導(dǎo)電性和滲透性增大。

Electrospinning (電紡):

通過帶電液體創(chuàng)造出納米纖維。能夠適用于復(fù)雜分子使其非常適合生物制造。

Electrostatic Chucks (靜電卡盤):

半導(dǎo)體制造設(shè)施中使用的夾持性工作階段設(shè)備，在加工過程中利用靜電引力將晶圓芯片固定到位。

Electrostatic Discharge Testing (ESD) (靜電放電測試（ESD）):

高壓電源和其他設(shè)備結(jié)合使用，以模擬電子設(shè)備和組件上的靜電電荷累積和放電。

Electrostatic Flocking (靜電植絨):

通過靜電將細(xì)微顆粒驅(qū)動(dòng)到粘性涂層表面。典型的植絨包括各種尺寸和顏色的精細(xì)裁剪的天然或合成纖維。

Electrostatic Lenses (靜電透鏡):

一種聚焦裝置，利用靜電原理影響帶電粒子的運(yùn)動(dòng)。

Electrostatic Oilers (靜電涂油機(jī)):

工業(yè)涂油設(shè)備，利用靜電準(zhǔn)確地向目標(biāo)表面涂油。

Electrostatic Precipitators (靜電除塵器):

微粒收集系統(tǒng)，利用靜電吸引原理從流動(dòng)氣體中去除顆粒。

Electrostatic Printing (靜電印刷):

一種印刷或復(fù)制流程，利用靜電引力在印刷表面上形成由粉末或墨水構(gòu)成的圖像。

Electrostatic Separators (靜電分離器):

用于選礦或廢物回收應(yīng)用的分類設(shè)備，利用靜電引力將混合物質(zhì)流中的物質(zhì)分選出來。

Elemental Analyzers (元素分析儀):

此類設(shè)備利用 X 射線熒光（XRF）技術(shù)來確定原料的組成，以作為多種工業(yè)生產(chǎn)過程中的一項(xiàng)質(zhì)量檢查。

Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF) (能量色散X射線熒光（EDXRF）):

一種用于元素分析的分析光譜技術(shù)。它利用電磁輻射和物質(zhì)之間相互作用，在帶電粒子撞擊物質(zhì)后對(duì)釋放出的 X 射線進(jìn)行分析。

Explosive Detection Systems (EDS) (爆炸物探測系統(tǒng)（EDS）):

請參閱“探測系統(tǒng)”。

F

Flash Lamps (閃光燈):

輝光放電燈，產(chǎn)生持續(xù)時(shí)間很短的的廣譜白光。

Flight Simulators (飛行模擬器):

復(fù)雜的機(jī)電系統(tǒng)，模擬飛機(jī)駕駛體驗(yàn)以用于訓(xùn)練。經(jīng)常使用 CRT 投影機(jī)提供重疊的寬屏幕顯示以得到逼真的視覺圖像。

Focused Ion Beam Mask Repair (FIB) (聚焦離子束光罩修補(bǔ)（FIB）):

半導(dǎo)體加工中使用光學(xué)投影蝕刻光罩，它們是 IC 芯片的基本布線設(shè)備。利用采用非常精密聚焦離子束的專用修補(bǔ)設(shè)備，這些光罩的缺陷可以得到修補(bǔ)。

填充液位檢查:

用自動(dòng)X射線系統(tǒng)檢驗(yàn)用于食品工業(yè)流程的容器填充液位的過程。

Food Inspection (食品檢查):

采用 X 射線檢查技術(shù)檢查工業(yè)加工食品中的骨頭碎片和外來污染物。

G

Gamma Cameras ():

用于對(duì)發(fā)射放射性同位素的伽瑪輻射進(jìn)行成像，這種技術(shù)稱為閃爍掃描術(shù)。

Gamma Detectors (伽瑪探測器):

利用閃爍材料與伽瑪射線的相互作用。這種相互作用產(chǎn)生低能量光，然后利用光電倍增管收集和放大這些光。

Gel Electrophoresis (凝膠電泳):

通過對(duì)凝膠基質(zhì)施加電場，用于分離脫氧核糖核酸（DNA）、核糖核酸（RNA）或蛋白質(zhì)分子的分離技術(shù)。

H

High Voltage Dividers (高壓分壓器):

利用低端縮放電阻予以終結(jié)的高壓精密電阻串，可提供易于測量的成比例低壓信號(hào)。

High Voltage Measurement (高壓測量):

使用高壓分壓器、高阻抗儀表和適用的電暈抑制設(shè)備準(zhǔn)確測量高壓信號(hào)的安全方法。

High Voltage Packaging (高壓封裝):

用于工業(yè)制造的高壓設(shè)計(jì)技術(shù)，其中考慮所有變量，如電暈抑制、絕緣先決條件、分解和跟蹤要求以及材料相容性問題。

Hi Pot Testing (耐壓試驗(yàn)):

對(duì)電纜或組件施加測試電壓以確定它能夠承受特定電壓均衡水平。

Hollow Cathode Lamps (HCL) (空心陰極燈（HCL）):

專業(yè)光學(xué)燈，用作激光器燈光管的譜線源頻率調(diào)諧器。

I

Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (ICP) (電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP）):

一種質(zhì)譜分析法，能夠確定濃度非常低的一系列金屬和非金屬。這種技術(shù)基于作為通過質(zhì)譜儀產(chǎn)生離子的一種方法的電感耦合等離子體。

Ion Beam (離子束):

由離子組成的粒子束。

Ion Beam Implantation (離子束注入):

半導(dǎo)體制造中使用的一種工藝，通過高能離子束將所需材料的離子植入另一種固體，從而改變目標(biāo)材料的物理性能。

Ion Milling (離子銑):

采用高壓電源將低壓氣體電離，同時(shí)加速并中和它們，從而產(chǎn)生一個(gè)中性原子束轟擊樣品并通過動(dòng)力或化學(xué)流程去除材料。

Ion Sources (離子源):

用于產(chǎn)生帶電粒子的電磁裝置。

Ionization Chambers (電離室):

的充氣輻射探測器，用于檢測和測量電離輻射。

Image Intensifiers (圖像增強(qiáng)器):

用于增加光學(xué)系統(tǒng)中的光強(qiáng)度的真空管設(shè)備；對(duì) X 射線/伽碼射線輻射敏感的熒光材料；或?qū)⒎强梢姽廪D(zhuǎn)換為可見光譜光。

Impulse Generators (脈沖發(fā)生器):

這些電氣設(shè)備通過并聯(lián)、串聯(lián)或串并聯(lián)的電容器放電來產(chǎn)生用于脈沖測試的極短脈沖。

Industrial Color Printing (工業(yè)彩印):

請參閱“靜電印刷”

Industrial CT (工業(yè)CT):

利用計(jì)算機(jī)化層析成像原理進(jìn)行的工業(yè)檢測流程。

Industrial Magnetrons (工業(yè)磁控管):

用于大型微波加熱設(shè)備，如工業(yè)烹飪、粉末烘干和橡膠硫化。

J

K

L

Lａnd Based Power Feed Equipment (PFE) for Telecommunications (用于電信的陸基供電設(shè)備（PFE）):

采用特別設(shè)計(jì)和制造的精密、冗余且高度可靠的高壓電源，用于為電信用海底光纖電纜供電。

Lasers (激光器):

用于產(chǎn)生并放大強(qiáng)烈的相干窄光束的設(shè)備。

Leak Detectors (檢漏儀):

基于質(zhì)譜儀的設(shè)備，可以檢測濃度非常低的特定氣體。

Lithotripsy (碎石術(shù)):

一種醫(yī)療手術(shù)，使用沖擊波來擊碎腎、膀胱或尿道中的鈣化物。

M

Magnetrons (磁控管):

高功率真空管，利用通過諧振腔放大予以加強(qiáng)的磁場內(nèi)電子流來產(chǎn)生高頻輻射。

Mammography (乳腺X光造影術(shù)):

一種醫(yī)療檢查過程，利用X射線對(duì)人體胸部進(jìn)行成像以篩查和診斷乳腺癌。

Marx Generators (發(fā)生器):

一種脈沖發(fā)生器，請參閱“脈沖發(fā)生器”。

Matrix Assisted Laser Desorption Ionization Mass Spectrometry (MALDI) (基質(zhì)輔助激光解吸電離質(zhì)譜（MALDI）):

一種特殊的質(zhì)譜技術(shù)，用于分析雙分子和大有機(jī)分子；如果采用傳統(tǒng)電離方法，這些分子可能會(huì)受損。

Matrix Assisted Laser Desorption Ionization Time Of Flight Mass Spectrometry (MALDI-TOF) 基質(zhì)輔助激光解吸附電離飛行時(shí)間質(zhì)譜（MALDI-TOF）:

請參閱“基質(zhì)輔助激光解吸電離質(zhì)譜（MALDI）”

Medical Oncology (醫(yī)學(xué)腫瘤學(xué)):

利用放射療法（電離輻射）治療惡性腫瘤。

Medical Irradiation (醫(yī)療照射):

見“醫(yī)學(xué)腫瘤學(xué)”

Medical Sterilization (醫(yī)療滅菌):

利用伽瑪輻射對(duì)植入物、診斷工具包、導(dǎo)管和套件等包裝醫(yī)療設(shè)備和產(chǎn)品進(jìn)行消毒。

Microchannel Plate Detectors (微通道板探測):

用于探測電子、離子、紫外線輻射和X射線的設(shè)備。類似于電子倍增器，它們是利用二次放射的原理工作的。

Microwave Generators (微波發(fā)生器):

請參閱“磁控管”

X-BOXs® (X-BOXs®):

威思曼高壓電子公司的一系列X射線源的注冊商標(biāo)，其中包括高壓電源、燈絲電源、控制電子元件和一體式X射線管，它們封裝為一個(gè)簡單而且經(jīng)濟(jì)高效的總成件，用于各種保安、醫(yī)學(xué)和工業(yè)X射線分析應(yīng)用。

N

Neutron Generators (中子發(fā)生器):

此類設(shè)備采用緊湊型線性加速器，能夠通過將氫同位素熔合在一起而產(chǎn)生中子。

Non Destructive Testing (NDT) (無損檢測（NDT）):

用于檢測物體、材料或系統(tǒng)而不損害其未來可用性的方法，通常應(yīng)用于非醫(yī)學(xué)檢查并保持材料完整性。

Non Thermal Plasma Reactors (非熱等離子體反應(yīng)器):

這些設(shè)備產(chǎn)生低溫常壓的部分電離氣體，用于等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法、等離子體蝕刻和等離子清洗。

Nuclear Medicine (核醫(yī)學(xué)):

醫(yī)學(xué)和醫(yī)學(xué)成像的一個(gè)分支，使用放射性同位素和放射性衰變過程來治療和診斷疾病。

Nuclear Instrumentation Modules (NIM) (核監(jiān)測儀表模塊（NIM）):

一種標(biāo)準(zhǔn)，定義實(shí)驗(yàn)粒子和核物理實(shí)驗(yàn)中使用的電子模塊的機(jī)械和電氣規(guī)范。

O

Ozone Generators (臭氧發(fā)生器):

見“電暈發(fā)生器”

P

Photolithography (光刻):

將掩模上的幾何形狀轉(zhuǎn)移到硅晶片的過程，通常在半導(dǎo)體制造設(shè)施中用于制造集成電路。

Photo Multiplier Tube Detectors (PMT) (光電倍增管檢測器（PMT）):

屬于光電真空管，這些檢測器對(duì)電磁波譜中的紫外線、可見光和近紅外范圍的光線極其敏感。

Piezoelectric Transformers (壓電變壓器):

非磁性變壓器，用于交換電位與機(jī)械力。電壓增益為材料系數(shù)、初級(jí)層的厚度以及材料的厚度和總長度的函數(shù)。

Plasma Igniters (等離子???器):

通過將加壓氣體通過一個(gè)小的含有帶電電極的通道來工作。當(dāng)施加電壓時(shí)，會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈火花來加熱氣體，直到產(chǎn)生等離子體燃燒器放電。

Plasma Torches (等離子燃燒器):

請參閱“等離子體點(diǎn)火器”

Pockels Cells (普克耳斯盒):

電壓控制的光學(xué)設(shè)備，用于改變通過它們的光的極性。

Positron Emission Tomography (PET) 正電子發(fā)射斷層攝影術(shù)（PET）:

一種核醫(yī)學(xué)成像技術(shù)，用于產(chǎn)生人體技能過程的三維圖像。人們將能夠發(fā)射正電子的放射性示蹤物質(zhì)引入人體中的生物活性分子上，然后利用這種系統(tǒng)檢測所發(fā)出的伽瑪射線。

Power Feed Equipment (PFE) (饋電設(shè)備（PFE）):

位于陸地或船舶上的高壓電源，用于為電信光纜供電。請參閱“用于電信的陸基饋電設(shè)備 (PFE)”以了解更多詳情。

Product Inspection (產(chǎn)品檢驗(yàn)):

利用X射線檢測系統(tǒng)檢查產(chǎn)品中的污染物，如金屬??璃、石頭和骨頭。請參閱“食品檢查”以了解更多信息。

Proportional Counters (比例計(jì)數(shù)器):

用于測量 α、β、和X射線輻射的輻射探測器，由比例計(jì)數(shù)管和相關(guān)電路構(gòu)成。基本類似于Geiger-Müller計(jì)數(shù)器，但使用不同氣體和較低管電壓。

Pulse Forming Networks (PFN) (脈沖形成網(wǎng)絡(luò)（PFN）):

長時(shí)間累積電能后以短持續(xù)脈沖的形式釋放儲(chǔ)存的能量，用于各種脈沖功率應(yīng)用。PFN 通常采用高壓電源充電，然后通過高壓開關(guān)迅速釋放到負(fù)載中。

Pulse Generators (脈沖發(fā)生器):

一些電路或電子測試設(shè)備，用于生成具有不同幅度、占空比和頻率的信號(hào)脈沖。

脈沖電源:

此類電源具有固有的生成脈沖輸出的能力。

Q

四極質(zhì)譜分析儀:

基本包括四個(gè)充電棒，它們與要測量的離子的飛行路徑平行放置。通過改變棒中的電壓，按質(zhì)荷比（m/z）對(duì)離子進(jìn)行過濾和分離

R

S

Scanning Electron Microscopes (SEM) (掃描電子顯微鏡（SEM）):

請參閱“電子顯微鏡”

Shipboard Power Feed Equipment (PFE) for Telecommunications (用于電信的船載饋電設(shè)備（PFE）):

特別設(shè)計(jì)的饋電設(shè)備，采用精密、冗余且高度可靠的高壓電源，當(dāng)部署或在電纜敷設(shè)船上維修海底電信光纜時(shí)，這些設(shè)備用于為這些電纜供電。

Silicone Encapsulation (硅封裝):

高壓電源中經(jīng)常使用的一種固體絕緣介質(zhì)，能夠?qū)崿F(xiàn)較小物理尺寸、高功率密度并與物理環(huán)境隔離。

Single Photo Emission Computed Tomography (SPECT) (單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層攝影術(shù)（SPECT）):

類似于正電子發(fā)射斷層攝影術(shù)（PET）放入一種醫(yī)學(xué)成像技術(shù)，將放射性示蹤物質(zhì)注入身體。SPECT 用于診斷和評(píng)估眾多身體狀況，包括心臟病、癌癥和腦損傷。

Spectrometers (光譜儀):

用于測量電磁光譜特定部分上的光的屬性的儀器，通常用于光譜分析以辨別物質(zhì)。

Spectrophotometers (分光光度計(jì)):

含有一個(gè)光度計(jì)，可以測量作為光的顏色（或者更具體的波長）的函數(shù)的光強(qiáng)度。

Sputtering (濺鍍):

一種物理氣相沉積工藝，用來在基材上沉積薄的涂層，用于各種工業(yè)和科學(xué)應(yīng)用。當(dāng)電離化的氣體分子置換目標(biāo)材料中的原子時(shí)，即發(fā)生濺鍍。這些原子在原子級(jí)別與基材結(jié)合，從而形成薄膜。

Substance Identification Systems (物質(zhì)識(shí)別系統(tǒng)):

一些專門設(shè)備，能夠通過使用各種分析技術(shù)來識(shí)別不明物質(zhì)（、爆炸物等），包括但不限于X射線和質(zhì)譜法。

T

Thickness Gauging (厚度測量):

利用X射線熒光（XRF）分析技術(shù)來確定金屬表面的鍍層、涂料或其他類型涂層的厚度。

Time of Flight Mass Spectrometry (TOF) (飛行時(shí)間質(zhì)譜（TOF）):

在特定距離的真空管中利用電場對(duì)離子加速，賦予這些未知離子相同的動(dòng)能。離子的速度（因此，飛行時(shí)間）取決于它們的質(zhì)荷比。將飛行時(shí)間與已知標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行對(duì)比，就能確定未知材料是什么。

Trace Detection Systems (痕跡檢測系統(tǒng)):

此類系統(tǒng)利用多種分析技術(shù)（X射線、質(zhì)譜等）來確定是否存在或等違禁物質(zhì)。

Transmission Electron Microscopes (TEM) (透射電子顯微鏡（TEM）):

一些特殊類型的電子束顯微鏡，利用透射電子來產(chǎn)生樣本的圖像。請參閱“電子顯微鏡”以了解更多信息。

U

UV Flash Lamps (UV閃光燈):

包括四個(gè)主要元件：一個(gè)高壓電源，???脈沖形成網(wǎng)絡(luò)，一個(gè)氙閃光燈，一個(gè)觸發(fā)電路。所產(chǎn)生的紫外線光可用于固化油墨、粘合劑、涂料等各種工業(yè)應(yīng)用。

UV Water Purification Systems (紫外線水凈化系統(tǒng)):

凈水器中使用的紫外線源，用于殺死未經(jīng)處理的水中的有害微生物，如細(xì)菌和病毒。

V

Vacuum Deposition Systems (真空沉積系統(tǒng)):

在真空條件下，通過熱蒸發(fā)、濺鍍、陰極電弧汽化、激光燒蝕或化學(xué)氣相沉積，將原子或分子構(gòu)成的薄層沉積到固體表面。

Vacuum Ion Pumps (真空離子泵):

此類設(shè)備將氣體電離，并使用強(qiáng)電場加速所生成的離子并使其進(jìn)入固體電極，從而有效地將它們從真空室去除。

W

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence (WDXRF) (波長色散X射線熒光（WDXRF）):

用于對(duì)晶體散射的特定波長的X射線進(jìn)行計(jì)數(shù)的一種方法。這種技術(shù)通常用于X射線熒光光譜儀中的化學(xué)分析。

Wire Line Logging (電纜測井):

利用特殊的電動(dòng)儀器連續(xù)測量石油和天然氣鉆孔成孔特性，以做出有關(guān)鉆井和生產(chǎn)操作的決策。

X

X-Ray Analysis (X射線分析):

使用多種X射線分析技術(shù)來確定已知或未知材料的屬性。

X-Ray Crystallography (X射線結(jié)晶學(xué)):

通過X射線衍射技術(shù)研究晶體結(jié)構(gòu)。當(dāng)X射線束沖擊晶格時(shí)，光束會(huì)以由晶格原子結(jié)構(gòu)確定的特定方式散射。

X-Ray Diffraction (XRD) (X射線衍射（XRD）):

用于獲取結(jié)晶固體的結(jié)構(gòu)信息，在生物化學(xué)中可以很好地用于解析復(fù)雜生物分子的三維結(jié)構(gòu)。

X-Ray Fluorescence (XRF):

is a process where an unknown sample is bombarded with X-rays causing a disturbance ?he electron orbitals which emits secondary fluorescent X-rays of wavelengths. These secondary emissions are detected and analyzed, identifying the material.

X-Ray Generators (X射線熒光（XRF）):

利用X射線轟擊未知樣品來擾亂電子軌道，從而發(fā)射出具有特定波長的二級(jí)熒光X射線。人們通過檢測和分析這些二級(jí)放射來識(shí)別材料。

X-Ray Inspection (X射線發(fā)生器):

從技術(shù)上上講包括能夠產(chǎn)生X射線的任何設(shè)備。在電源行業(yè)中，X射線發(fā)生器這一術(shù)語經(jīng)常用來稱呼為X射線管供電的專用高壓電源。

X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) (X射線光電光譜法（XPS）):

使用X -射線照射樣品表面并測量離開表面的電子的通量，從而確定未知材料。

X射線粉末衍射（XRD）(X射線粉末衍射（XRD）):

一種分析技術(shù)，在粉末或微晶粉末樣本上使用X射線以了解未知物質(zhì)的結(jié)構(gòu)特征。

Y

Z