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金屬材料實驗室中XRF熒光光譜儀的優劣分析

2026年05月16日 19:21:18      來源:無錫創想分析儀器有限公司 >> 進入該公司展臺      閱讀量:8

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臺式XRF熒光光譜儀有兩種分別是波長色散型X熒光光譜儀和能量色散型X熒光光譜儀。我們這篇文章說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器。

1、XRF熒光光譜儀的優勢

(1) 制樣簡單。基本上都是物理制樣。試樣經過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成。

(2) 分析范圍廣。理論上從四號元素Be到92號元素鈾均可進行分析。

(3) 測量范圍寬。從0.001%到99%均可進行分析。

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X射線熒光原理圖

2、XRF熒光光譜儀的劣勢

(1) 各公司宣傳XRF熒光光譜儀的分析范圍從PPM到99%。事實上熒光光譜儀的分析范圍并沒有那么廣,受所分析試樣的基體影響很大。如果分析碳氫化合物中的元素,檢出限可以達到到PPM,如石油中硫S的分析,地質樣品中則只能達到10PPM,而在鉛合金中檢出限要50PPM以上。XRF無法進行純金屬材料分析,因為純金屬材料中各元素的含量均很低。

(2) XRF不能分析不銹鋼中的五害元素。傳統上,不銹鋼生產企業通常用XRF熒光進行過程控制分析,但是目前不銹鋼生產企業就只能用直讀光譜儀來測量微量元素了,因為當今材料要求五害元素的含量比國家標準要低得多。

(3)XRF對標樣的依賴性很強。試樣的顆粒度、組成、結構差異等均會對分析結果產生很大影響。

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