X熒光光譜儀已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就x熒光光譜儀的工作原理及其應用做簡單介紹。

X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。

近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得*多也*廣泛。

大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

優點:
1、分析速度高·測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2-5分鐘就可以測克樣品中的全部待測元素。
2、 雙射線泰光光譜跟樣品的化學結合狀志無關,而且跟固體 粉末.液體反晶質,非晶質等物質的狀志也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分游率的精密測定中卻可著到有波長變化等現象·特別是在超軟刈對線范圍內,這種效應吏為顯著.波長變化用于化學位的測定
3、 非破壞分析。在測定中不會引起化學伏態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反真多次測量,結果重現性好。
4、 X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
5、 分析精密度高。
6、 制樣簡單,固體,粉末,液體樣品等都可以進行分析。
缺點:
1、 難于作分析,故定量分析需要標樣。
2、對輕元素的靈敏度要低一些。
3、容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)