X射線熒光光譜儀的常用探測器有二個：流氣計數器和閃爍計數器。閃爍計數器一般很穩定，但是問題常出現在流氣計數器上。
今天我們創想儀器光譜儀廠家小編就臺式X熒光光譜儀計數率不穩的問題進行一下講解：
流氣計數器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄(約30nm)的鋁膜所構成，由于窗膜承受大氣壓力，一段時間后隨著基體材料的延展，鋁膜可能產生裂紋，從而減弱導電性能，這種情況對脈沖高度分布影響不大，但會使計數率不穩定。X射線熒光光譜儀一般都安裝1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流氣計數器的窗膜導電性能下降的可能性增大。
臺式X熒光光譜儀
檢查方法：在低X射線光管功率情況下，選一個KKα計數率約2000CPS的樣品，測定計數率，然后用一個鉀含量高的樣品取代原樣品，將光管調到滿功率，保持2分鐘，再將X射線光管功率減至原值，測量幾個樣品，如窗膜導電正常，將得到原計數率，如窗膜導電性能變差，會發現計數率減小，然后慢慢回升至初始值，這時就應調換窗膜。
創想光譜儀目前生產在售的EDX-6000臺式X熒光光譜儀融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。
臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。
