X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

X熒光光譜分析儀能夠快速分析礦石樣本、精礦、礦渣的金屬元素成分。允許用戶通過運用特殊校正因子來進一步提高檢測精度。它對礦山原場地所采集的礦石樣品可以直接測試，但這會影響到元素的品位值，因為元素在礦石中的含量分布不均勻，儀器所測試的點不能代表整個礦石，理想的分析效果要求我們對礦石樣品進行烘干，研磨（160目以上） ，攪拌均勻后再測試，對于含量幾個PPM級的元素，測試時間長些，相應的精度也會跟著提高。

手持式X熒光光譜儀礦石分析儀

X熒光光譜儀在陽光直射的高溫，高日照量的情況下也能保持高性能的特點，這得益于儀器設計中充分考慮低功耗及X射線管高溫的及時排放，所以它可承受惡劣的工作環境。它的可分析元素可從從鎂礦（Mg）到钚礦（Pu）之間的所有83種自然礦石，包括重金屬礦石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等。對高品位、精選礦石精確的品位評定，提供礦石采集、收購價值依據，也可對礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價值在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進行品檢，確定品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液進行分析，快速普查超大范圍的礦區，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實時勘察現場、快速追蹤礦化異常、有效地尋找“熱點”地帶，圈定礦體邊界有重要作用。而通過對輸送料、精礦、礦渣進行現場分析以確定、跟蹤提煉或者濃縮過程的有效性有很大的保障。

此外，X熒光光譜分析儀還可以對礦場描繪以及品位控制。通過實時就地分析多個樣本，實現對開采計劃進行指導，有效地管理挖掘、爆破工作，在現場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質成分，以有效控制勘探成本。它也能夠對礦石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進行快速的金屬元素含量分析。無論是進行原地檢測還是非原地檢測，功能的計算軟件能夠自動消除由于不同樣品的材質差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進行檢測，而無需其他任何數據輸入或者進行再次校準。根據對檢測精度的不同要求，測試時間僅需數秒到數分鐘。