非接觸式輪廓曲線的設計與優異的用白色光軸向色差的技術優勢。又稱彩色共焦技術,符合ISO和ASTM標準。該技術測量一個物理波長直接關系到一個特定的高度,而無需使用任何復雜的算法。這將確保所有的表面測量結果的準確性。樣品的反射率不會產生什么影響,無需進行頻繁的校準,而且測量參數的變化也不會產生影響。利用光柵掃描時,表面光度儀可以進行2D和3D測量,可以對于應用提供靈活的測量解決方案
特點:價格低廉、納米至微米表面粗糙度測量(ISO 25178)、全自動的觸摸屏、緊湊的設計
特點:重量低于5.5Kg、封裝27cm×14cm、XY軸方向25mm×25mm、便攜式、非接觸式3D測量能力
尺寸緊湊、XY軸方向50mm×50mm、可升級取代光筆和激光分析器、價格實惠、技術
XY軸方向150mm×150m、多種選擇、寬敞的平臺區域為的樣品尺寸所設計、圖像模式識別
HS1000光學輪廓儀/高速自動檢查

粗糙度、質地 輪廓、尺寸 彎曲、平面度

地形、形狀 體積、面積 高度、厚度
特點:
| 基底 | Jr25 | PS50 | ST400 | ST500 | HS1000 |
| XY軸行程 | 25mm | 50mm | 150mm | 400×400mm | 400×600mm |
| Z軸 | 30mm | 30mm | 60mm | 50mm | 50mm |
| XY軸zui大速度 | 20mm/s | 20mm/s | 20mm/s | 200mm/s | 1m/s |
| 尺寸 | 20×30×17 | 38×33×43 | 69×68×51 | 78×78×76 | 130×120×185 |
| 旋轉階段 | N/A | N/A | 可選 | 可選 | 可選 |
| 光學成像變焦 | N/A | N/A | 可選 | 可選 | 可選 |
| zui大樣品重量 | N/A | 8Kg | 12Kg | 8Kg | 8Kg |
| 定制 | 可選 | N/A | 可選 | 可選 | 可選 |
可選筆
| 測量范圍 | 工作距離mm | 垂直分辨率 | 橫向分辨率 |
| 110μm | 3.35 | 2.5 | 1.1/1.3 |
| 300μm | 10.8 | 5.7 | 1.7/1.8/3.7 |
| 1.1mm | 12.0 | 17 | 2.6/4.5 |
| 3.0mm | 16.2 | 40 | 4.6/7.0 |
| 10mm | 25.9 | 133 | 11/14 |
| 20mm | 21.5 | 250 | 11/18 |
| 線型傳感器(高速) | 納米 | 微米 | 宏 |
| 測量范圍mm | 0.2 | 0.95 | 3.9 |
| 工作距離mm | 5.3 | 18.5 | 41 |
| 垂直分辨率 | 20 | 80 | 320 |
| 線長mm | 0.96 | 1.91 | 4.78 |
| 橫向分辨率 | 1 | 2 | 5 |
| 間距μm | 5 | 10 | 25 |
| 點數 | 192 | 192 | 192 |
| 光圈數值 | 0.7 | 0.55 | 0.33 |
- 光筆
Nanovea光筆不受樣品反射率的影響。變化無需樣品制備,并擁有測量高表面角度的能力。能夠進行大的Z范圍的測量。測量任何材質:透明/不透明,鏡面/擴散,拋光/粗糙。快速分析劃傷,壓痕和磨損在3D精密光學下的結果。為不同的的動態垂直測量選擇大的筆。優良垂直和空間分辨率
可選擇大的光筆、無需制備樣品、高表面角度的能力、可測量任何樣品表面
- AFM模塊
AFM對于確定測量范圍是很有效的。提供了快速從光學輪廓儀測量的被選擇區域移動到的AFM三維測量在較高的水平和垂直分辨率的使用能力。 AFM測量是無損的,不需要樣品制備。AFM的設計容易記住使用并且與市場上zui簡單探測進行交流。AFM要分開安裝,并提供一個友好的安裝避免纜線纏繞,在顯微鏡安裝在AFM上是一個問題。標準模式:靜力(接觸)、恒力、恒定高度。擴展模式:動態力(斷續接觸等) :恒振幅,恒定高度、靜力:力調制模式,擴展電阻。動態力:相襯,磁力,靜電力。
掃描區域可達110μm、Z范圍可達22μm、XY分辨率可達0.15nm、Z分辨率可達0.027nm
- 光學成像
視頻變焦相機提供通過現場攝像機視圖來衡量選擇一個區域的可用性,相機補償到光學筆在Nanovea 3D軟件校準的距離下。在11.42毫米到1.77毫米對角線場中完成手動或電動變焦能力。在軟件中可以使用視頻選擇功能視頻選項將允許用戶繪制圍繞一種測量過的特點,取表面的圖像和合并多個圖像創建表面的大圖片。增加相機選項時,包含了模式識別軟件。
- 顯微成像
該轉塔顯微鏡含有選擇的顯微鏡的所有功能,如偏光器和分析器幻燈片。轉塔顯微鏡可配zui多5個顯微鏡物鏡,從5倍到100倍,圖像可以zui多放大4000倍。當需要高的細節層次轉塔顯微鏡可以用來解決任何表面的小的特征。


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