Tecnai™ 透射電鏡特點(diǎn)

• 高性能 TEM 成像、STEM 成像和納米分析。
• 革命性的 EDX ChemiSTEM™ 分析性能和杰出的 TEM 和 STEM 成像質(zhì)量 （Tecnai Osiris）
• 同步數(shù)據(jù)記錄、嵌入式 STEM、CCD 相機(jī)、EDX 探測(cè)器、EELS 電子能量損失譜儀和能量過(guò)濾器 （Tecnai G2 F20/30）。
• 穩(wěn)定的低偏差、液氦冷卻樣品桿、精密的高傾角 （± 70°） 旋轉(zhuǎn)樣品桿，廣泛的多樣品定向記錄（二維電子晶體學(xué)和高分辨率細(xì)胞斷層攝影） （Tecnai™ G2 Polara）。
• 雙軸斷層攝影、高級(jí)自動(dòng)化和優(yōu)化的冷沉淀電子顯微鏡整體解決方案（Tecnai Spirit）

結(jié)合了現(xiàn)代技術(shù)和創(chuàng)新科學(xué)和工程團(tuán)體的緊迫需求