波散型X射線熒光光譜儀XRF-1800特點

•可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。
•高次譜線的判定更加準確，提高了定性定量分析的準確度/可靠性。
•利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線分析不能得到的氫（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜的信息。
•獨自開發的特殊形狀的滑動式視野限制光欄，利用r方向滑動與樣品旋轉控制的q轉動，可以在30mm直徑內的任意位置進行分析。
•在測定室導入樣品的位置上，將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置，通過CCD攝取樣品的圖像，可使測定位置與圖像相吻合。（申請中）
•配備平均壽命在5年以上的高可靠性Ｘ射線管。與傳統的3kWＸ射線管相比，輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。
•對應于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態的樣品具有相應的分析條件，在這基礎上可編制的分析條件。可根據不同材質判定、品種分類、品種判定、性檢索這4種匹配功能進行判定、檢索。