LAB SPAKR 750C精密火花直讀光譜儀
>> 儀器介紹
廣泛應用于有色行業的生產過程控制，中心實驗室成品檢驗等，可用于Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析。可對片狀、塊狀以及棒狀的固體樣品中的非金屬元素（C、P、S、B等）以及金屬元素進行準確定量分析，分析結果準確，分析精度高。儀器日常維護簡單，運行成本低，故障率低。
>> 儀器參數
1. 焦距：750mm
2.譜線范圍：120-800nm
3.高能預火花光源，激發頻率:300-1000Hz
4.帕邢-龍格架構法，真空光學系統
5.光電倍增管檢測器
6.光柵刻線：2400條/mm
7.工作環境：溫度10－40℃ 濕度＜80％
8.電源：220V 16A 2.5KVA
9.重量：350Kg
10.儀器尺寸：長105×深85×高120cm
11.整體出射狹縫，預留240條
2.譜線范圍：120-800nm
3.高能預火花光源，激發頻率:300-1000Hz
4.帕邢-龍格架構法，真空光學系統
5.光電倍增管檢測器
6.光柵刻線：2400條/mm
7.工作環境：溫度10－40℃ 濕度＜80％
8.電源：220V 16A 2.5KVA
9.重量：350Kg
10.儀器尺寸：長105×深85×高120cm
11.整體出射狹縫，預留240條
>> 儀器特點
◆激發能量、頻率連續可調全數字固態光源，適應各種不同材料
◆原位單次放電采集的技術（SDA）有效提高分析精度
◆可變延時積分技術，大大降低背景干擾
◆高精度光電倍增管負高壓獨立供電連續可調技術，調整更精確，可程序調整，提高 動態范圍
◆單板式透鏡架，擦拭時大大降低對光室的污染
◆基于ARM9的儀器狀態實時監控系統
◆USB采集，通用性更強
◆固態吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高運行穩定性
◆綠光背景燈，加快響應速度，提高短期分析精度
◆原位單次放電采集的技術（SDA）有效提高分析精度
◆可變延時積分技術，大大降低背景干擾
◆高精度光電倍增管負高壓獨立供電連續可調技術，調整更精確，可程序調整，提高 動態范圍
◆單板式透鏡架，擦拭時大大降低對光室的污染
◆基于ARM9的儀器狀態實時監控系統
◆USB采集，通用性更強
◆固態吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高運行穩定性
◆綠光背景燈，加快響應速度，提高短期分析精度
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