525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500
525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀特點：
表面粗糙度測量功能：
- 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的zui高顯示分辨力為0.0001μm（測量范圍為8μm時）。
- X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在搞精度精準定位下，完成間距參數的評價。
- 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
輪廓測量功能：
- Z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm,同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。
- 專為SV-C-4500系統增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的功能。
- 裝配雙錐面測針，實現垂直方向（上/下）連續測量，所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量得內螺紋有效直徑。
- 測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。
- 的表面粗糙度/輪廓FOTMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。
- 表面粗糙度測試儀和輪廓度測量儀結合在一起，節省安裝空間。
525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀規格參數
貨號 | CV-3200S4 | CV-3200H4 | CV-3200W4 | CV-3200S8 | CV-3200H8 | CV-3200W8 | |||
CV-4500S4 | CV-4500H4 | CV-4500W4 | CV-4500S8 | CV-4500H8 | CV-4500W8 | ||||
★量表面粗糙度時 | |||||||||
測量范圍 | X軸（驅動部 | 100MM | 200MM | ||||||
Z1軸（檢出器） | 800μm/80μm/8μm | ||||||||
直線度 | （0.05+L/1000）μm L:驅動長度（mm） | 0.5μm/200mm | |||||||
分辨力 | Z1軸（檢出器 | 0.01μm（800μm），0.001μm（80μm），0.0001μm（8μm | |||||||
測力 | 0.75mN(機身代碼末尾帶“-1”的型號) 4N(機身代碼末尾帶“-2的型號) | ||||||||
測針針尖形狀 | 60°，2μmR(機身代碼末尾帶“-1”的型號) 90°，5μmR(機身代碼末尾帶“-1”的型號) | ||||||||
對應尺寸 | JIS1982/JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ANSI/VDA | ||||||||
評價參數 | Pa,Pq.Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,P△q,Pmr(C),Pmr,P&c,Ra,Rc,RSm,R△q,Rmr(C),Rmr,R&c, Wa,Wq.Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,W△q,Wmr(C),Wmr,W&c Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,，AW,W,Wte,Ry,RyDIN.RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,lr,,△a,λa,λq,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW | ||||||||
輪廓分析 | 原始輪廓，粗糙度輪廓，濾波波紋輪廓，波紋輪廓，滾動圓波形原始輪廓，滾動圓波形輪廓，包絡殘余線，DF輪廓（DIN4776/ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF（包絡波紋輪廓在評價MOTIF時顯示） | ||||||||
分析圖表 | 負荷曲線,振幅分布曲線，功率譜，自相關，Walsh功率譜，Walsh自相關，分布，傾斜角分布，參數分布（磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析） | ||||||||
曲線補充 | zui小平方直線、R面補償、橢圓補償、拋物線補償，雙曲線補償，二次曲線補償，多頂式補償（自動或任意2-7次），無補償 | ||||||||
濾波器 | 高斯濾波器，2CRPC75，2CRPC50，2CR75，2CR50，魯棒樣條濾波器 | ||||||||
輪廓測量 | |||||||||
測量范圍 | X軸（驅動部） | 100MM | 200MM | ||||||
Z1軸（檢出器） | 60mm(水平位置±30mm) | ||||||||
直線度 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||||
精度
| X軸（驅動部） | ±（0.8+0.01L）μm L=驅動長度（mm） | ±（0.8+0.02L）μm L=驅動長度（mm） | ||||||
Z1軸（檢出器） | SV-C3200系列：±（1.6+（2H）/100）μm SV-C4500系列：±（0.8+（2H）/100）μm H=水平位置上的測量高度（mm） | ||||||||
分辨力 | X軸（驅動部） | 0.05μm | |||||||
Z1軸（檢出器） | SV-C3200系列：0.04μm SV-C4500系列：0.02μm | ||||||||
Z2軸（立柱） | 1μm | ||||||||
測力 | SV-C3200系列：30mN（可調使用重量） SV-C4500系列：10,20,30,40,50mN (根據軟件轉換) | ||||||||
測頭方向 | SV-C3200系列：垂直方向（向上/向下單獨測量） SV-C4500系列：垂直方向（向上/向下根據配重調整） | ||||||||
☆通用時 |
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Z2軸（立柱）移動量 | 300mm | 500mm | 300mm | 50mm | |||||
X軸傾斜角度 | ±45° | ||||||||
驅動速度 | X軸 | 0-80mm/s外加手動 | |||||||
Z2軸（立柱） | 0-30mm/s外加手動 | ||||||||
測量速度 | 0.02-5mm/s | ||||||||
注：雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩定性是值得信賴的。
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