日本進口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
Flash Focus基本規格
| 模組 | |
|---|---|
| 傳輸脈沖類型 | 方波脈沖（40 ns至1μs，10 ns步進） |
| 發射脈沖電源電壓 | 12、48、96伏 |
| 硬件過濾器 | 0.5-10 MHz高通濾波器 |
| 硬件掃描存儲器 | 高達8,000點 |
| HW B掃描存儲器 | 膏32,000點（自動壓縮）至62K點（可選） |
| 波形顯示 | 全波，RF波 |
| 頻帶 | 0.25-10兆赫 |
| 增益設定 | 0至80 dB 0.1 dB步長（大值取決于同時激發的數量） |
| 可用元素數 | 128 |
| 同時激發數 | 多128 |
| 循環數 | 高達512 |
| 重復頻率（PRF） | ?43 kHz（小23 µs） |
| 采樣頻率 | 50 MHz / 10位 |
| DAC功能 | 膏14分 |
| 電源電壓 | 交流85?265 V |
| 軟件 | |
| 兼容探頭 | 扁平，聚焦，環形矩陣探頭，TRL矩陣探頭 |
| 聚焦方式 | 深度位置，光路，底部參考深度位置，散焦（擴散）（僅用于體積聚焦傳輸） |
| 延遲模式 | 延遲范圍0至40.94 µs DDF，多14點 |
| 顯示范圍 | A，B，C，D，S范圍 |
| 聲速設定 | 100-10000米/秒 |
| 瞄準鏡 | 中頻門跟蹤功能 |
| 軟件收益 | 記錄數據的增益增加功能 |
特征
多可并行驅動128個元件
通過增加同時使用的元件數量，提高了光束聚焦能力，并且還增加了掃描圖案。
線性掃描
部門掃描
區域重點
動態深度聚焦
體積聚焦技術（磚立3704065）
鑫的相控陣技術可實現高速，高分辨率的缺陷檢測。
可以使用各種探針檢測缺陷
除了普通的線性探針，我們還使用矩陣探針和細間距探傷實現了更細的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進行檢查。
線性探針
年度矩陣探測
方陣探頭
體積聚焦技術是我公司開發的相控陣超聲探傷技術（磚立3704065）。常規的相控陣掃描方法如下。
- 對于線性或扇形掃描，將發射光束指向一個方向，并且焦點位于軸的中心
- DDF或區域焦點一次聚焦在一個點上，然后繼續沿光束移動
另一方面，體積聚焦是一種可以立即掃描整個橫截面（例如樣品體積）的新方法。通過同時激發所有元素來創建一個不分散的平面波。
每個平行的元素都從底面，夾雜物，缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后，并行數字硬件處理實時創建B掃描和C掃描。
從概念上講，體積焦點類似于DDF，但體積焦點可以覆蓋所有橫截面或體積，而不僅僅是沿深度軸。
日本進口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
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