X射線電鍍膜厚分析儀
【詳細說明】
熒光X射線鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，生產(chǎn)力，再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
可測元素范圍：
鈦() – 鈾(U)
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細對焦
壓：0-50KV(程控)
主要特點
測量范圍寬，可檢測元素范圍；
可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；
精度、穩(wěn)定性好；
*的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能；
標準片；
的系統(tǒng)安全性
簡單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的
Ø主管人員可進行系統(tǒng)維護
Ø系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄
Ø自動鎖定功能防止未的操作
ØZ軸保護傳感器
Ø安全防射線光閘
Ø樣品室門開閉傳感器
ØX射線鎖
ØX射線警示燈
Ø緊急停止按鈕
Ø前面板安全鈕和后面板安全鎖
綜合性能:鍍層分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
X射線電鍍膜厚分析儀
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